РЕНТГЕНДІК СПЕТРОСКОПИЯ

Презентация қосу

РЕНТГЕНДІК
СПЕТРОСКОПИЯ

Орындағандар:
Қашым Мадина
Тоқсанбаева Диана
ҚҰРЫЛЫМЫН ЗЕРТТЕУГЕ ҚОЛДАНУ. РЕНТГЕНДІК
СПЕКТРОСКОПИЯҒА РЕНТГЕН ЭЛЕКТРОНДЫҚ
СПЕКТРОСКОПИЯ ДА ЖАТАДЫ. РЕНТГЕНДІК ШЫҒАРУ
СПЕКТРЛЕРІ НЫСАНА РЕТІНДЕ АЛЫНЫП, ЗЕРТТЕЛЕТІН
ЗАТТЫ РЕНТГЕН ТҮТІГІНДЕ ҮДЕЙ ҚОЗҒАЛҒАН
ЭЛЕКТРОНДАРМЕН (БІРІНШІ РЕТТІК СПЕКТРЛЕР) СОҚҚЫЛАУ
АРҚЫЛЫ АЛЫНАДЫ. ШЫҒАРУ СПЕКТРЛЕРІ
РЕНТГЕНДІК СПЕКТРОМЕТРДЕ ТІРКЕЛЕДІ. ОЛАР СӘУЛЕ
ШЫҒАРУ ҚАРҚЫНДЫЛЫҒЫНЫҢ
РЕНТГЕН ФОТОНДАРЫНЫҢ ЭНЕРГИЯСЫНАТӘУЕЛДІЛІГІ
БОЙЫНША ЗЕРТТЕЛЕДІ. ЗЕРТТЕЛЕТІН ЗАТТЫҢ ЖҰҚА
ҚАБАТЫ АРҚЫЛЫ ЕНІ ЖІҢІШКЕ ТЕЖЕУЛІК СӘУЛЕ
СПЕКТРІНІҢ ӨТУІ КЕЗІНДЕ РЕНТГЕНДІК ЖҰТЫЛУ
СПЕКТРЛЕРІ ТҮЗІЛЕДІ. РЕНТГЕНДІК ШЫҒАРУ СПЕКТРЛЕРІН
ЗЕРТТЕУ АРҚЫЛЫ ВАЛЕНТТІК ЭЛЕКТРОНДАР КҮЙЛЕРІ
ТЫҒЫЗДЫҒЫНЫҢ, АЛ РЕНТГЕНДІК ЖҰТЫЛУ СПЕКТРЛЕРІН
ЗЕРТТЕУ АРҚЫЛЫ ЕРКІН ЭЛЕКТРОНДЫҚ КҮЙЛЕРІ
ТЫҒЫЗДЫҒЫНЫҢ ЭНЕРГЕТ. ТАРАЛУЫ ЖАЙЛЫ ДЕРЕКТЕР
АЛЫНАДЫ. РЕНТГЕН-ЭЛЕКТРОН. СПЕКТРОСКОПИЯ ХИМ.
ТАЛДАУДА ЖӘНЕ АТОМДАРДЫҢ ІШКІ ДЕҢГЕЙЛЕРІНІҢ
ЭНЕРГИЯСЫН, СОНДАЙ-АҚ ХИМ. ҚОСЫЛЫСТАРДАҒЫ
АТОМДАРДЫҢ ВАЛЕНТТІЛІК КҮЙЛЕРІН АНЫҚТАУ ҮШІН ДЕ
ҚОЛДАНЫЛАДЫ.
.
Рентгенді спектрлік
талдау

Эмиссиялық Абсорбциялық Флуоресцентрлік
Абсорбциялық әдіс .
Әдісті көбінесе сұйықтықтардағы салыстырмалы
ауыр қоспаларды анықтауда қолданылады.
Сұйықтықтарды рентгендік сәулелерді төмен жұтылу
коэффициентті материалдан жасалған ойларға
орналастырады (мысалы, плегсигланнан). Ой арқылы
өткен рентгендік сәулелер шоқтарын спектрге
ыдыратады. Талдау кезінде зат арқылы сәулелер
өткендегі спектрдегі интенсивтіліктің өзгерісі
зерттеледі. Талдаудың екі түрі бар: үзіліссіз спектрді
жұтылу және сипаттамалы спектрді жұтылу әдісі.
Абсорбциялық әдіс салыстырмалы төмен
сезімталдыққа - 0,5-0,15% ие. Сандық талдаудың
қателігі 10-5% құрайды.
ЭМИССИЯЛЫҚ ӘДІС
БҰЛ ӘДІСПЕН РЕНТГЕНДІК ТРУБКАНЫ Ң АНОДЫНА
ОРНАЛАСТЫРҒАН ЗАТТЫҢ СПЕКТРІН ЗЕРТТЕЙДІ ЗАТТЫ
ЭЛЕКТРОНДАР ШОҚТАРЫМЕН АТҚЫЛАҒАНДА БІРІНШІ
СИПАТТАМАЛЫ СӘУЛЕЛЕНУ ПАЙДА БОЛАДЫ. ОЛ
САҢЫЛАУДАН ӨТКЕН СОҢ КРИСТАЛДЫҢ (СПЕКТРОГРАФ
НЕМЕСЕ СПЕКТРОМЕТР) КӨМЕГІМЕН СПЕКТРЛЕРГЕ
ЫДЫРАЙДЫ ЖӘНЕ ФОТОПЛЕНКАДА ЕСЕПТЕУІШ К ӨМЕГІМЕН
ТІРКЕЛЕДІ. САНДЫҚ ТАЛДАУДЫ СЫРТҚЫ ЖӘНЕ ІШКІ
СТАНДАРТТАР ӘДІСІМЕН ЖҮРГІЗЕДІ. ЭМИССИЯЛЫ Қ ӘДІС
ЖОҒАРҒЫ СЕЗІМТАЛДЫҚҚА 0,1-00,1% ИЕ. БІРІНШІ СПЕКТРЛЕР
БОЙЫНША САНДЫҚ ТАЛДАУДЫҢ ҚАТЕЛІГІ АНЫҚТАЛАТЫН
ЭЛЕМЕНТТІҢ 2-5% ҚҰРАЙДЫ. БҰЛ ӘДІСПЕН ЗЕРТТЕУ КЕЗІНДЕ
ЗЕРТТЕЛЕТІН ЗАТТЫ ҚЫЗДЫРАДЫ, СОНДЫҚТАН ТЕЗ ЖАН ҒЫШ
ЗАТТАР ТАЛДАУЫ, МЫСАЛЫ, КҮКІРТ ПЕН СЕЛЕНДІ ТАЛДАУ
ҚИЫНДЫҚ ТУДЫРАДЫ.
Флуоресцентрлік әдіс .
Флуоресцентрлік әдіс пен зерттеуде затты күшті рентгендік трубка анодына жақын
жерге орналастырады. Трубкадан шығатын бірінші сәулелену зерттелетін заттың екінші
сипаттамалы сәулесін қоздырады. Бұл сәулелену Соллер саңылауының көмегімен
белгіленген параллельді шоқпен кристалға түседі де, кристал оны спектрге ыдыратады.
Спектр әдетте газ разрядты немесе және сцинтилляциялық есептегіш көмегімен
тіркеледі. Фотографиялық әдіс екінші ретті спектрлер интенсивтілігінің аздығынан
қолданылмайды. Зерттелетін зат рентгендік трубкадан өзге жерде орналасқандықтан,
талдауды жүргізуге жіберетін уақыт оптикалық талдау әдісімен зерттеуге кететін
уақыттан көп емес. Обьек зерттеу кезінде қызбайды, жеңіл жаңғыш заттарды зерттеу
мүмкіндігі бар. РФТ үлгінің бұзылуынсыз немесе ыдырауынсыз (қатты дене, сұйықтық,
газ) бір уақытта ішкі және сыртқы стандарт әдістерімен көптеген элементтер (24-ке
дейін) құрамын зерттеуге мүмкіндік береді. Талдауды автоматты құрылғыларда – жоғары
өтімділікке ие рентгендік спектрометрлерде және квантометрлерде жүргізуге болады.
Бұл әдіс өте жоғары 0,04-0,0005%-ға тең сезімталдыққа ие. РФТ-да кең қолданысқа ие,
жарық күшінде едәуір ұтыс беретін кристалсыз рентгенофлуоресцентрлік аппараттары
кіші қуатты миниатюрлы рентгендік трубканы немесе радиоизотопты көздерді қолдануға
мүмкіндік береді. Кристалсыз анализаторларда әдетте селективті есептеу және
селективті фильтрлеу деген екі әдіс қолданылады.
     Рентгенді спектрлік талдаудың сенімділігі
басқа аналогты әдістер сенімділігінен аз емес.
Сезгіштігі жеткілікті жоғары элементтің
минимал құрамы берілген аналогты әдіспен
анықталады; ол рентгенді спектрлік талдау
әдісінен және ауыр элементтерден жеңіл
элементтерге көшу кезінде азаяды. Әдетте
талдаудың сезгіштігі 0,1 0,001%  құрайды,
бірақ кейбір қолайлы жағдайларда 105 106
% сезгіштік табалдырығын алу мүмкіндігі
болады. Қазіргі кезге дейін жеңіл
элементтердің рентгенді спектрлік талдауды
қолдану аймағы Z>11 атомдық номерімен
шектелген. Енді берилий (Z = 4) және тіпті
литийдің (Z = 3) құрамын талдауға мүмкіндік
беретін құралдар бар.
Құралдың күрделілігі
Рентген спектріндегі электрондық ауысу
схемасы. Спектрдегі сызықтар аса көоп емес.
Мозли заңына сәйкес К сызықтардың жиілігі
элеметтің реттік санымен байланысқан.




         Сұйық , қатты және ұнтақ сынамада
минутына 100% концентрациясы диапазонында
натрий ( 11) элементінен уран ( 92 )  элементіне
дейін талдауға арналған
     S2 PUMA спектрометр.
МИКРОРЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТТІ ( МИКРО -
XRF ) БІРТЕКТІ БҰЗЫЛМАЙТЫН ҮЛГІЛЕРДІ
ЭЛЕМЕНТТІК НАТРИЙ ДЕН( 11) УРАНҒА ( 92 ) ,
ТҰРАҚТЫ ЕМЕС НЫСАНДАҒЫ НЕМЕСЕ ЖОҒАРЫ
СЕЗІМТАЛДЫҚ БАР ҮЛГІЛЕРГІ АНЫҚТАЙДЫ.
M1 MISTRAL - АСЫЛ МЕТАЛДАРДАН ЖАСАЛҒАН
ЭЛЕМЕНТТЕРДІҢ КӨМЕГІМЕН, СІЗ КЕЗ КЕЛГЕН ҮЛГІ ДАЙЫНДАЙ
АЛАСЫЗ. ПРИБОР КОМЕГІМЕН ТИТАННАН БАСТАП БАРЛЫҚ
ЭЛЕМЕНТТЕРІНІҢ ӨЛШЕМІНЕ ЕЛЕМЕЙ КЕЗ КЕЛГЕН
НЫСАНДАҒЫ ҮЛГІЛЕРДІҢ ҚҰРАМЫН АНЫҚТАУҒА БОЛАДЫ.
ТАЛДАУ НАҚТЫЛЫҒЫ 0,2 % ҚҰРАЙДЫ.
Рентген сәулеленуінің екі
түрі белгілі
Тежеуіш
    Сипаттамалық рентген
      сәулелері
     Атомдағы электронның ядро орбитасынан
алыс жатқан жерінен жақынырақ жатқан
орбитаға көшу кезінде пайда болады, егер
тереңірек жатқан орбитада бос орын пайда
болса, сипаттамалық рентген сәулесі
газдардағы оптикалық спектрлерге ұқсас
сызықтық спектрлігіне ие болады
     Тежеуіш сәулелену
        Рентген трубкаларында жылдам  электрондар
анодқа шабуылдап тежеліп тоқтағанда вакуум
ішінде пайда болады. Тежеуіш сәулелену қысқа
толқынды бөлімдерде өкпек шекараның бар
болуы, кинетикалық энергия және тез ұшатын
оқталған бөлшектің (электронның) Массавы
жаппай спектрге ыдырайды
Рентген сәулелері заттан өткенде жартылай
жұтылады. Кіретін  ағыны мен интенсивтілік
арасындағы қатынас заттың  өтпелі қабаты
келесі түрде болады

                 I=I0eµx
         мұндағы  µ – жұтылу коэффициенті;
       x– жұтатын қабаттың қалыңдығы.Әрбір
элемент үшін үлгі құрамына кіретін  өлшем
бірлігі, рентген сәулесінің  жиілігіне
байланысты секіртпелі түрде өзгереді.
Қисықтағы жұтылудың секіртпесі n=1 (К
жұтылу), n=2 (Lжұтылу), n=3 (Мжұтылу)
және т.б. резонанстық жұтылуға сәйкес келеді
НАЗАРЛА Р ЫҢ ЫЗ ҒА
РАХМЕТ!

Ұқсас жұмыстар

Шикізат пен тағам өнімдерін зерттеу әдістері. Спектрлік зерттеу әдістері

Рентген сәулелерінің қасиеттері

Рентгенді талдау

Компьютерлік томография

Рентгендік сәулелену

Бас сүйектерін жасына байланысты оқып білу

Талдаудың аспаптық әдісі

Бассүйектің жасқа байланысты ерекшеліктері

Сүйек ұштарының қалыпты қатынасының бұзылу себептері

ЖАРЫҚ ДИФРАКЦИЯСЫ

Пәндер