Сәуле өткізуші электрондық микроскоптың жұмыс істеу принциптері мен мүмкіндіктері

Сәуле өткізуші электрондық микроскоптың жұмыс істеу әдістері.

Жоғары кернеу өрісінде тездетілген

электрон, толқын ретінде қарастырылу

мүмкін (толқын ұзындығы, көрінген сәуле

толқын ұзындығынан біраз кіші болсын. )

және оны симетриялы электрлік және

магнит өрістерін пайдаланып оңай

фокустеуге болады.

Сәуле өткізгіш электронды микроскоптың жұмысы осы принципке негізделген. Бұл микроскоптың схемасына ұқсас, бірақ мұнда жарық сәулелерінің орнына электрондар қолданылады. Бұл микроскоптың алғашқы құрылымын 1932 жылы неміс ғалымдары М. Киоллон және Е. Руска ойлап тапты.

Бұл микроскопта жарық көзі электрон көзімен ауыстырылған. Зеңбіректеп түскен электрондар электронды линза-конденсатор арқылы өтеді, (сәуле шығару ағынының және зерттелетін үлгінің беттік ауданының жарықтылық қарқындылығын реттейтін), одан соң линза объективтілік арқылы экранда пайда болған бейнені әдеттегі фотографиялық суретке айналдыратын фотокамера орналасқан люминесцентті экранға жобаланған.

Айта кетерлік жайт, электорондар өтетін траекторияда қондырғыда жоғары вакуум ұсталып тұруы қажет, себебі электорндар ағыны барлық заттармен қарқынды түрде әсерлеседі.

Жоғары энергетикалық электрон көздерінің көптеген конструкциялары бар, солардың ең қарапайым әрі сенімдісі қыздырылған вольфрам сымы болып табылады.

Күрделі электронды микроскоптарда күшті электр өрісінің әсерінен кремнилі кристал бетінен түсірілетін электрон ағынынан пайда болды ( өріс әсерінен болатын эмиссия, field emission ) . Сәуле өткізгіш электронды микроскопта зерттелетін үлгілер өте жұқа болуы қажет, себебі олардың қалыңдығы оның суреттегі бөліктерінің өлшемін анықтайды

Қажетті аса жұқа пластиналарды күрделі немесе арнайы әдістермен дайындайды.

Электронды сәуле зерттелген заттың жұқа қабатынан өтіп дефекттердің (кемістік) немесе үлгінің ішкі бөлігіндегі кристаллды структураның әртектілігін көрсететін нақты сурет алуға мүмкіндік береді. Дифракционды суреттердің анализі атомдық структуралардың жүйелілігін орнатуға сонымен қатар криссталлдардың бағдарлауға мүмкіндік береді.

Жаңа сәуле өткізгіш электрондық микроскоптардың мүмкіншілігі 0. 2нм құрайды, яғни әр атом мен молекуланың фото суретін алуға болады. 1-суретте, кобальт тотығының крмссталды дәнінен түзілген наноәйнек, өте жұқа пластинкалы заттың стуктурасының суреті көрсетілген.