Сәуле өткізуші электрондық микроскоптың жұмыс істеу әдістері
Презентация қосу
Сәуле өткізуші электрондық
микроскоптың жұмыс істеу
әдістері.
Жоғары кернеу өрісінде тездетілген
электрон,толқын ретінде қарастырылу
мүмкін (толқын ұзындығы,көрінген сәуле
толқын ұзындығынан біраз кіші болсын.)
және оны симетриялы электрлік және
магнит өрістерін пайдаланып оңай
фокустеуге болады.
Сәуле өткізгіш электронды микроскоптың
жұмысы осы принципке негізделген.
Бұл микроскоптың схемасына
ұқсас,бірақ мұнда жарық сәулелерінің
орнына электрондар қолданылады. Бұл
микроскоптың алғашқы құрылымын
1932 жылы неміс ғалымдары М.Киоллон
және Е.Руска ойлап тапты.
Бұл микроскопта жарық көзі электрон
көзімен ауыстырылған.Зеңбіректеп түскен
электрондар электронды линза-конденсатор
арқылы өтеді, (сәуле шығару ағынының және
зерттелетін үлгінің беттік ауданының
жарықтылық қарқындылығын реттейтін), одан
соң линза объективтілік арқылы экранда пайда
болған бейнені әдеттегі фотографиялық суретке
айналдыратын фотокамера орналасқан
люминесцентті экранға жобаланған.
Айта кетерлік жайт,электорондар
өтетін траекторияда қондырғыда
жоғары вакуум ұсталып тұруы
қажет,себебі электорндар ағыны
барлық заттармен қарқынды түрде
әсерлеседі.
Жоғары энергетикалық электрон
көздерінің көптеген конструкциялары
бар,солардың ең қарапайым әрі
сенімдісі қыздырылған вольфрам сымы
болып табылады.
Күрделі электронды микроскоптарда
күшті электр өрісінің әсерінен кремнилі
кристал бетінен түсірілетін электрон
ағынынан пайда болды ( өріс әсерінен
болатын эмиссия,field emission ).Сәуле
өткізгіш электронды микроскопта
зерттелетін үлгілер өте жұқа болуы
қажет,себебі олардың қалыңдығы оның
суреттегі бөліктерінің өлшемін
анықтайды
Қажетті аса жұқа пластиналарды күрделі
немесе арнайы әдістермен дайындайды.
Электронды сәуле зерттелген заттың жұқа
қабатынан өтіп дефекттердің (кемістік)
немесе үлгінің ішкі бөлігіндегі кристаллды
структураның әртектілігін көрсететін нақты
сурет алуға мүмкіндік береді. Дифракционды
суреттердің анализі атомдық
структуралардың жүйелілігін орнатуға
сонымен қатар криссталлдардың бағдарлауға
мүмкіндік береді.
Жаңа сәуле өткізгіш электрондық
микроскоптардың мүмкіншілігі 0.2нм
құрайды, яғни әр атом мен
молекуланың фото суретін алуға
болады.1-суретте, кобальт тотығының
крмссталды дәнінен түзілген наноәйнек,
өте жұқа пластинкалы заттың
стуктурасының суреті көрсетілген.
Суретте өлшемдері 50нм-ден төмен болатын, марфологилық
ерекшеліктерін көруге болады.
1-сурет. Сәуле өткізгіш электронды
микроскоптың кжұмыс істеу принципі.
Ұқсас жұмыстар
Пәндер
- Іс жүргізу
- Автоматтандыру, Техника
- Алғашқы әскери дайындық
- Астрономия
- Ауыл шаруашылығы
- Банк ісі
- Бизнесті бағалау
- Биология
- Бухгалтерлік іс
- Валеология
- Ветеринария
- География
- Геология, Геофизика, Геодезия
- Дін
- Ет, сүт, шарап өнімдері
- Жалпы тарих
- Жер кадастрі, Жылжымайтын мүлік
- Журналистика
- Информатика
- Кеден ісі
- Маркетинг
- Математика, Геометрия
- Медицина
- Мемлекеттік басқару
- Менеджмент
- Мұнай, Газ
- Мұрағат ісі
- Мәдениеттану
- ОБЖ (Основы безопасности жизнедеятельности)
- Педагогика
- Полиграфия
- Психология
- Салық
- Саясаттану
- Сақтандыру
- Сертификаттау, стандарттау
- Социология, Демография
- Спорт
- Статистика
- Тілтану, Филология
- Тарихи тұлғалар
- Тау-кен ісі
- Транспорт
- Туризм
- Физика
- Философия
- Халықаралық қатынастар
- Химия
- Экология, Қоршаған ортаны қорғау
- Экономика
- Экономикалық география
- Электротехника
- Қазақстан тарихы
- Қаржы
- Құрылыс
- Құқық, Криминалистика
- Әдебиет
- Өнер, музыка
- Өнеркәсіп, Өндіріс
Қазақ тілінде жазылған рефераттар, курстық жұмыстар, дипломдық жұмыстар бойынша біздің қор #1 болып табылады.
Ақпарат
Қосымша
Email: info@stud.kz