Рентген сәулелері

Мазмұны

Кіріспе
I.Рентген сәулелерінің дифракциясы
I.1. Рентген сәулелері.
I.2. Дифракция құбылысы.
I.3. Рентген сәулелерінің дифракциясын эксперименталды түрде зерттеу.
I.4. Рентген сәулелерінің практикада қолданылуы.
II. Дифракциялық құрылымдық зерттеу әдістері
2.1. Рентгендік дифракциялық зерттеулердің дифракциялық эксперименттік әдістері, классификациясы.
2.2. Қарапайым жағдайларда рентгендік дифракциялық зерттеулер құралдары.
2.3. Зерттеу материалына сипаттама
Қорытынды
Пайданылған әдебиеттер

Кіріспе

Рентген сәулелерін алғаш зерттеушілер Стокс, Д.А.Гольдгаммер және Рентген, рентген сәулесі жылдам электрондар анодқа соқтығысып тежегенде шығарылатын электромагниттік толқын деген ойларын айтқан. Бірақ рентген сәулесінің бірқатар қасиеттері оның толқындық табиғатымен үйлеспеді. Рентген сәулесінің көптеген қасиеттерін зерттеу өте қиынға түсті. Бір ортадан екінші ортаға өткендегі рентген сәулесінің шағылуы мен сынуын көп уақытқа дейін бақылау мүмкін болмады. Рентген сәулесінің әлсіз шашырауын ғана байқаған, оны рентген сәулесінің корпускулалы табиғаты бойынша оңай түсіндіруге болады.
Рентген сәулелерінің толқындық табиғатын түсіндірудегі негізгі қиыншылық рентген сәулелерінің интерференциясы мен дифракциясы байқау мақсатында Рентген және басқа зерттеушілер жасаған тәжірибелердің сәтсіздігі. Көп уақыт өтпей-ақ рентген сәулесінің толқын ұзындығы көрінетін және ультракүлгін сәуленікінен әлде қайда кіші екендігі анықталды.
Рентгеннің алғашқы жұмысы жарық көргеннен кейін, 1897 жылы Стокс рентген сәулесінің табиғаты туралы қазіргі көзқарас шеңберінде дұрыс деп есептеуге болатындай ұсынысын жасаған. Стокс рентген сәулесін электрондар анодқа соқтығысып жылдамдығы күрт өзгергенде пайда болатын қысқа электромагниттік импульс деп есептеді. Қозғалыстағы заряд жылдамдығының мұндай өзгерісін электр тогының әлсіреуі деп қарастыруға болады. Ол қозғалыстағы электронмен байланысқан магнит өрісінің әлсіреуімен қатар жүреді. Магнит өрісінің өзгерісі қоршаған ортада айнымалы электр өрісін тудырады, ал ол айнымалы ығысу тоғын тудырады, және т.с.с. сонымен Максвелл түсіндіруіне сәйкес кеңістікте жарық жылдамдығымен таралатын электромагниттік испульс пайда болады.
Рентген сәулесінің табиғаты 1912 жылы Лауэ идеясы бойынша рентген сәулесінің дифракциясы құбылысын тәжірибе жүзінде алынғаннан кейін барып толығымен анықталды. Лауэнің ашқан жаңалығы кезінде рентген сәулесінің толқынды табиғатының айқын дәлелдемесі болды.

ПАЙДАЛАНЫЛҒАН ӘДЕБИЕТТЕР

2. R.A. Sigslce., R.H. Vilson. –J. Appl Phys 1973, 25. p541.
3. Ибрагимов Ж.Д., Ярклов У. Пробеги ионов Kr и Xe в аморфном Al2O3 и SiO2 в области энергии 4-100 кэВ. В сб. Структура и свойства облученных материалов. Ташкент, «Фан», 1975, -24с.
4. R.J.Kelly. Low – Energy Depth Distributions in pt, Al and KCl as abtained by sputteing – J. Appl Phys, 39, 11, 1968, p 5298.
5. Мясников А.А., Позднеев Д.В. Расчет среднего числа радиционных дефектов в Si и SiO2 облученных быстрыми нейтронами. ФТП. Т.5, 1971, с.976.
6. W.Primak. Mechanism for the Radiation compaction of vitreous silica. - J. Appl Phys – 43, 6, 1972 p1745.
7. Вахидов Ш.А., Гасанов Э.М., Ибрагимов Ж.Д., Хабибуллаев П.К. Фазовые превращения в α - кварце под действием нейтронного облучения. – Доклады АН УзССР, 9, 1984, с. 24-25.
8. Гегузин Я.Е. Очерки о диффузии в кристаллах. М. «Наука», с.253.
9. Макаревич А.И., Березина Г.М., Курилович Н.Ф. Влияние нейтронного облучения на механические свойства кремния. В сб. Радиационная физика неметаллических кристаллов. Минск, «Наука и техника». 1970,-71с.
10. Глазков В.М., Вигдорович В.Н. В кн. Микротвердость металлов и полупроводников. М. «Металлургия», 1969,-248с.
11. Брудный В.Н., Толебаев Б. Изменение микротвердости образцов SiС (6Н) при нейтронном облучении. Атомная энергия, т.59, 1985, с.232-233.
12. Ерматов С.Е., Тогжигитов К. Исследование корреляции фазавого перехода, микротвердости и диффузии на образцах двуокиси кремния при реакторном облучении и термоотжиге. В сб. Физика атомного ядра и космических лучей. Алма-Ата, 1980, с.109-115.
13. Вахидов Ш.А., Гасанов Э.М., Ибрагимов Ж.Д., Каланов М., Мустафакулов А.А., Хабибуллаев П.К. Рентгеноструктурное исследование кристаллов кварца, выращенных на нейтронно-облученных затравках.-Докл. АН УзССР, №4, 1984, с.27.
14. Абдукадырова И.Х., Вахидов Ш.А., Мухтарова Н.Н. Радиационна-индицированная перестройка структуры кварца. УзССР фанлар Акад. ахбороты, физ.мат. фанлари сер. Изв. УзССР, серия физ.мат. наук, №3, 1984, с.76-79.

Пән: Физика
Жұмыс түрі: Реферат
Тегін: Антиплагиат
Көлемі: 16 бет
Таңдаулыға:

Мазмұны

Кіріспе
I.Рентген сәулелерінің дифракциясы
1. Рентген сәулелері.
2. Дифракция құбылысы.
3. Рентген сәулелерінің дифракциясын эксперименталды түрде зерттеу.
4. Рентген сәулелерінің практикада қолданылуы.
II. Дифракциялық құрылымдық зерттеу әдістері
2.1. Рентгендік дифракциялық зерттеулердің дифракциялық эксперименттік
әдістері, классификациясы.
2.2. Қарапайым жағдайларда рентгендік дифракциялық зерттеулер құралдары.
2.3. Зерттеу материалына сипаттама
Қорытынды
Пайданылған әдебиеттер

Кіріспе

Рентген сәулелерін алғаш зерттеушілер Стокс, Д.А.Гольдгаммер және
Рентген, рентген сәулесі жылдам электрондар анодқа соқтығысып тежегенде
шығарылатын электромагниттік толқын деген ойларын айтқан. Бірақ рентген
сәулесінің бірқатар қасиеттері оның толқындық табиғатымен үйлеспеді.
Рентген сәулесінің көптеген қасиеттерін зерттеу өте қиынға түсті. Бір
ортадан екінші ортаға өткендегі рентген сәулесінің шағылуы мен сынуын көп
уақытқа дейін бақылау мүмкін болмады. Рентген сәулесінің әлсіз шашырауын
ғана байқаған, оны рентген сәулесінің корпускулалы табиғаты бойынша оңай
түсіндіруге болады.
Рентген сәулелерінің толқындық табиғатын түсіндірудегі негізгі
қиыншылық рентген сәулелерінің интерференциясы мен дифракциясы байқау
мақсатында Рентген және басқа зерттеушілер жасаған тәжірибелердің
сәтсіздігі. Көп уақыт өтпей-ақ рентген сәулесінің толқын ұзындығы көрінетін
және ультракүлгін сәуленікінен әлде қайда кіші екендігі анықталды.
Рентгеннің алғашқы жұмысы жарық көргеннен кейін, 1897 жылы Стокс
рентген сәулесінің табиғаты туралы қазіргі көзқарас шеңберінде дұрыс деп
есептеуге болатындай ұсынысын жасаған. Стокс рентген сәулесін электрондар
анодқа соқтығысып жылдамдығы күрт өзгергенде пайда болатын қысқа
электромагниттік импульс деп есептеді. Қозғалыстағы заряд жылдамдығының
мұндай өзгерісін электр тогының әлсіреуі деп қарастыруға болады. Ол
қозғалыстағы электронмен байланысқан магнит өрісінің әлсіреуімен қатар
жүреді. Магнит өрісінің өзгерісі қоршаған ортада айнымалы электр өрісін
тудырады, ал ол айнымалы ығысу тоғын тудырады, және т.с.с. сонымен Максвелл
түсіндіруіне сәйкес кеңістікте жарық жылдамдығымен таралатын
электромагниттік испульс пайда болады.
Рентген сәулесінің табиғаты 1912 жылы Лауэ идеясы бойынша рентген
сәулесінің дифракциясы құбылысын тәжірибе жүзінде алынғаннан кейін барып
толығымен анықталды. Лауэнің ашқан жаңалығы кезінде рентген сәулесінің
толқынды табиғатының айқын дәлелдемесі болды.

I ТАРАУ. Рентген сәулелерінің дифракциясы.

1.1. Рентген сәулелері.

Оптикалық спектрдің ультракүлгін алқабының қысқа толқындық шетінен
рентген спектрі деп аталатын спектрдің бір ерекше алқабы басталады. Бұл
спектрлік алқапқа жататын сәулелердің толқынынан қысқа болады. Осындай өте
қысқа толқынды ерекше сәулелер рентген сәулелері деп аталады.бұл сәулелерді
ең алғаш, 1895 жылы, неміс физигі Рентген тапқан.
Рентген катодтық сәулелерді зерттеп тәжірибе жасап жатып, бір жолы
катодтық түтіктен электр разряды өтіп тұрған кезде сол түтіктің жанында
тұрған флуоресценцияланғыш экраннан жарық шығып тұрғандығын кездейсоқ
байқады.
Түтікті қара қағазбен жауып қойғанда экранның жарық шығаруы
тоқталмады. Рентген тағыда бірсыпыра тәжірибелер жасап: экран жарық
шығарған кезде оған көзге көрінбейтін ерекше сәулелер түсетіндігін, ол
сәулелер шыны түтіктің катод сәулелері түскен орнынан таралатындығын
тағайындады. Осы ерекше сәулелерді еркін электрондардың ағыны екендігі
мәлім. Олай болса, рентген сәулелері шапшаң электрондар келіп соғылған
қатты денеден таралатын көрінбейтін сәулелер болады. Бұл сәулелердің
мынадай негізгі қасиетері бар:
1)Рентген сәулелері кәдімгі жарық сәулелері өте алмайтын ағаш, шыны,
мата, қара қағаз сияқты денелерден өте алады; алтын, темір, барий сияқты
заттардан нашар өтеді, дәлірек айтқанда рентген сәулелері ауыр атомдардан
түзілген тығыз емес заттардан горі жеңіл атомдардан түзілген тығыз емес
заттардан жақсы өтеді.
2)Рентген сәулелері түскен фотопластинка кәдімгі жарық түскендегідей
қараяды.
3)Рентген сәулелерінің әсерінен ауағу және басқа газдарға электр
өткізетін қасиет пайда болады, өйткені олар рентген сәулелерінің әсерінен
иондалады.
4)Рентген сәулелері түскен кейбір заттар жарық шығарады (флуоресценция
құбылысы байқалады). Әсіресе платиносинородты барийдан жасалған экран жақсы
флуоресценцияланады.
5)Рентген сәулелеріне электр өрісі мен магнит өрісі әсер етпейді, атап
айтқанда электр және магнит өрістерінің әсерінен рентген сәулелерінің
таралу бағыты өзгермейді.
Сонымен рентген сәулелерін бақылап зерттеу үшін оның осы айтылған
қасиеттерін пайдалануға болады, яғни флуоресценцияланғыш экранды,
фотопластинканы және иондалу камерасын қолдануға болады. Мұнымен қабат бұл
үшін рентген сәулелерінің фотоэлектрлік және жылулық қасиеттерін де
пайдаланылуы мүмкін.
1 – сурет
Рентген сәулелерін алу үшін арнаулы түтіктер қолданылады. Сондай
рентген түтіктерінің бір түрі 1-суретте көрсетілген; мұнда К-катод, ол
вольфрам сымынан жасалған; А-анод, ол ауыр металдан, (платина, вольфрам
т.б.) жасалады. Электр тогы жіберілгенде ол катод қызады да одан
электрондар бөлініп шығады, сол электрондар К мен А арасындағы потенциалдар
айырымының әсерінен анодқа қарай үдей қозғалады.
Олар анодтың бір орнына шоғырланып соғылу үшін вольфрам спиральді
әдетте метал цилиндрдің ішінде орнатады.
Бұл түтіктің ішінде ауа өте мұқиат сиретіледі, қалған ауа
сарқындысының қысымы болымсыз аз, шамамен (10-6 – 10-8 мм сынап бағанынын
қысымындай) ғана болады. Сондықтан бұл түтіктегі электр тогы нағыз
электрондар болып табылады, оған газ иондары қатыспайды. Мұндай түтіктер
электрондық Рентген түтіктері деп аталады.бұлардың бір артықшылығы сол,
олардың катод арқылы өтетін токтың күшін қалауымызша өзгертуге болады, олай
болса катодтан ұшып шығатын термоэлектрондардың мөлшерін өзгертіп отыруға
болады. Сонымен бірге түтіктің катоды мен анодының потенциалдарының
айырмасын өзгерте отырып, әлгі термоэлектрондардың жылдамдығын демек
кинетикалық энергиясын өзгертуге болады. Сөйтіп түтіктің жұмыс істеу
режимін қалауымызша өзгертіп, рентген сәулелерін әртүрлі жағдайларда
қоздыруға болады. Қоздыру жағдайларына қарай рентген сәулелері бөгеліс
рентген сәулелері және сипаттауыш рентген сәулелері деп екіге бөлінеді.
Бөгеліс рентген сәулелері тұтас спектр, сипаттауыш рентген сәулелері
сызықтық спектр береді.
Электрондардың қозу энергиясы кәдімгі технологиялық қондырғыларда
100 000 эв. Қазіргі кезде рентген сәулелерін 1 000 000 эв, ал арнайы
ядролық физикада соңғы кезде рентген сәулелерін энергиясы 100 000 000 эв.
электрондарды тормоздау арқылы алынатын әдіс қоданылады.
Рентген түтігі үздіксіз көп уақыт жұмыс істеген кезде оның анодын
қызып кетуден сақтау үшін оны арнаулы тетік арқылы ағын сумен салқындатын
отырады.

1.2. Дифракция құбылысы.
Жарықтың толқындық сипаты білінетін құбылыстардың біреуі дифракция
құбылысы болады. Дифракция деп жарықтың түзу сызықты жолдың бұрылу құбылысы
айтылады. Жарықтың осындай қасиеті бар екендігін мынадай тәжірибе жасап
білуге болады. Еген бір саңылаудан өткен жарық шоғының жолында саңылаудан
40 см жерде, оған параллель етіп тартылған диаметрі 0,2 мм жіңңшке сым
тұрған болса, сонда 2 метрдей жердегі ақ экранға түскен сымның геометриялық
көлеңкесінің дәл ортасына жіңішке ақ жолақ пайда болады. Бұл тәжірибеден
жарық толқыны сымды орағытып барып көлеңке алқабына түскені байқалады.
Демек бөгетке кездесіп жарықтың жолы қисаяды.
Бұл ретте орыс физигі В.К.Аркадьев мынадай тәжірибе жасаған. Диаметрі
1,97 мм инеге одан 24,17 м қашықтықта тұрған өлшемдері 0,7х4мм саңылау
арқылы толқын ұзындығы 0,46 мкм монохромат жарық шрғын түсірген; иненің
екінші жағына 15,47 м жерге, фотопластинка қойып сол ине көлеңкесінің
фотосуретін түсіріп алған.
1 - сурет.
Сонда ине көлеңкесінің дәл ортасында жіңішке жарық жолақ, екі жағында
онымен қатарласа орналасқан бірнеше жарық және қара қоңыр көлеңкесінің
жолақтарын байқаған (1 - сурет). Бұдан жарық толқынының жолындағы инені
айнала өтіп көлеңке алқабына барғаны байқалады.
Дифракция құбылысы тек жарыққа ғана емес, басқа да толқындық
процестерге тән құбылыс. Мысалы: дыбыс толқындары да жолында кездескен
бөгетті айнала бұрылып таралады. Биік үйдің бір жағынан шыққан дыбыс оның
екінші жағынан да естіледі, өйткені дыбыс толқыны үйдің бұрышына жетіп
бұрылады да қалқаланып тұрған алқапқа барады, басқаша айтқанда
дифракцияланады.

1.3. Рентген сәулелерінің дифракциясын эксперименталды
түрде зерттеу.
Рентген сәулелерінің толқындық табиғатын Лауэ тәжірибесінен кейін
анықталады. Алғаш Лауэ өзінің пікірінде: рентген сәулелелері кристалдан
өткенде дифракция құбылысы байқалуы керек, өйткені атомдарының бір-бірінен
қашықтығы 0,1 нм-дей кристал бұл жағдайда көлемдік дифракциялық решетка
қызметін атқарады. Лауэ осы айтылған пікірін дәлелдеу үшін шәкірттерімен
бірге тәжірибе жасады, оның бұл тәжірибесінің схемасы 2-суретте
кескінделген.
2-сурет.
Мұндғы R-рентген түтігі, D1 мен D2 – кішкене тесігі бар қалың қорғасын
пластикалар (диафрагмалар), P-фотопластинка. Тәжірибе кезінде түтіктен
таралған бөгеліс рентген сәулелерінің қорғасын диафрагмадан өткен жіңішке
шоғы кристалға түседі, одан өтіп фотопластинкаға барады, сонда өңделген
пластинканың бетінде бірнеше қара дақтар пайда болады.
3-сурет.
3 – суретте ZnS кристалының пластинкасынан рентген сәулелері өткенде пайда
болған дақтардың кескіні (Лауэграмма) көрсетіліп отыр. Бұлардың центріндегі
ең интенцивтігі күшті дақ ZnS пластинкадан өткенде бағыты өзгермеген
рентген сәулелері түскен орны, ал оны айнала белгілі тәртіппен орналасқан
дақтар кристалл пластинадан қабат-қабат болып шашырай тараған, яғни
дифракцияланған рентегн сәулелері түскен орнында болады. Сөйтіп, рентген
сәулелері кристалдық решеткадан өткенде дифракцияланады, ол сәулелер түскен
пластинка бетінде дифракциялық бейнелер түзіледі. Бұл құбылыстың
математикалық теориясын кезінде М.Лауэ шығарған болатын. Онымен қатар
рентген сәулелері дифракциясын түсіндірудің өзге тәсілі де бар. Ағылшын
кристаллографтары У.Х.Брегг пен У.Л.Брегг және орыс ғалымы Ю.В.Вульдо
(1913ж) өз беттерінше жаңа әдіс ұсынды. Бұл әдісті баяндау үшін куб пішінді
кристалдық решетка алайық. (4-сурет).
4-сурет.
Координатаның x, y, z осьтерін ыңғайлы болу үшін кубтың қырымен
параллель болатындай таңдау керек. Сонда х у жазықтығында атомдардың
орналасуы 4-сурет бойынша болады. Кристалдың х у жазықтығын кез келген
жазықтықпен қиғанда түзу сызық түрінде ізін қалдырады. (Мысалы: 1 және 1
немесе 2 және 2). Біз кристалды 1,1 ,... және 2,2 ,..., өзінің қырына
параллель бірнеше жазықтықтарға бөле аламыз.
Бұл жазықтықтар бірдей тығыз орналасқан атомдардан және олардың
арақашықтығы d – ға тең кубтың қыры болып келеді. Бірақ суреттен басқа
тәсілдер арқылы бөлуге болатыны көрінеді. Мысалы: 3,3 ,...; 4,4 ,...;
олар 1,1 ,... және 2,2 ,... жазықтықтан айырмашылығы атомдар тығыздығында
және аралық қашықтығында. Осыған λ толқын ұзындығымен монохромат параллель
сәулелер түссін дейік. Атомдар центрін жаңа когорентті толқын деп біз
арқайсысы жазықтықтан түсу бұрышына тең бұрышпен шағылдыратынын айтамыз.
Бір жазықтықта шағылдыру кез келген толқын ұзындығында бірдей болады, яғни
кез келген сәуленің жол жүрісінің айырымы 0-ге тең.
Енді біз шағылдыру параллель жатқан 2 жазықтықтан болсын дейік.
(5-сурет).
5-сурет
Мұнда атомдық жазықтықтардың әрқайсысындағы атомдардың саны бірдей болады
және қара нүктелер атомдарды көрсетеді. Кристалдың бетіне толқынының
ұзындығы λ-ға тең монохромат рентген сәулелерінің параллель шоғы түссін,
олардың кристал бетімен жасайтын бұрышы, яғни сырғанау бұрышы φ болсын. Бұл
рентген сәулелері әр түрлі атомдық жазықтықтардағы атомдардан шағылып тұс-
тұс жаққа қарай шашырайды. Біз тек көршілес жатқан I және II
жазықтықтардағы А және В атомдарынан шағылған 1 және 2 рентген сәулелерін
ғана қарастырайық. Бұл сәулелер шағылғаннан соң да өзара параллель болып
тарайды, олар атомдық жазықтықпен бұрынғыша φ бұрышын жасайды. 2 сәуленің
жолы 1 сәуленің жолынан ұзынырақ, олардың жолдарының айырмасы СВ+ВД
қосындысына тең, суретке қарағанда.
Сонда:
СВ + ВD = 2dsinφ

Осылай дұрыс шағылған параллель сәулелер бірімен-бірі қосылысады, егер
олардың жолдарының айырмасы бүтін толқын ұзындығына тең болса , онда бұл
сәулелер бірін-бірі күшейтеді де, дақ өте айқын көрінеді. Сонымен
кристалдан шағылған рентген сәулелерінің интенсивтігі өте зор болу үшін
мына шарт орындалуға тиіс:

2d sin φ = nλ

Осы қорытылып шығарылған теңдеудің Вульф пен Бреггтер шарты деп
аталады. Бұл теңдеуге енген n бірден басталатын бүтін сандарға тең болады.
Егер n = 1 болса, онда λ = 2d sin φ, болады, бұл теңдеу толқынының
ұзындығы λ – тең рентген сәулелерінің кристалдан бірінші реттік шағылу
шарты болып табылады. Егер n = 2 болса, онда 2λ = 2d sin φ2 бұл сол
сәулелердің кристалдан екінші реттік шағылу шарты болады, мұндағы φ2 мен φ1
бұрышынан үлкен, демек түсу бұрыштары бірдей емес, олай болса монохромат
рентген сәулелерінің кристалға түсу бұрышын өзгерте отырып бірінші, екінші,
үшінші реттік және т.т. дифракциялық максимумдарын байқауға болады.
Біз Вульф пен Бреггтер шартын қорытып шығарғанда кристалдың табиғи
жақтарына параллель атомдық жазықтықтардан шағылған рентген сәулелерін
қарастырдық. Әрине дәл осылайша рентген сәулелерінің атомдық жазықтықтардың
басқа системаларынан, мысалы, кристалдың элементар кубтарының диагональдары
арқылы жүргізілген жазықтықтардан шағылуын да қарастыруға болады. Сонда
Лауэ-рентгенограмасының әрбір қара дағы белгілі жазықтықтар системасынан
шағылған рентген сәулелерінің интерференциялануының нәтижесі екендігін
дәлелдеп көрсетуге болады. Ендеше кез келген жазықтықтар системасынан
шағылған рентген сәулелері бірін-бірі күшейту үшін кристалға түскен рентген
сәулелерінің шоғында толқынының ұзындығы Вульф пен Брегг шартын
қанағаттандыратын сәулелер болуы тиіс.
Сөйтіп рентген сәулелерінің дифракциялық бейнелерін түсіндіру жағынан
алып қарағанда Вульф пен Бреггтер әдісі Лауэ әдісімен эквивалент болып
табылады.
Бірақ Вульф пен Бреггтер методының өзінше маңызы зор, өйткені бұл
әдіс рентген сәулелерініңспектрі жайындағы ілімнің және сонымен қабат
кристалдың структурасын зерттеудің дербес бір әдісінің негізі болып
табылады.
Егер кристалдық решетканың түрі (типі) және оның тұрақтысы белгілі
болса, рентген сәулелерінің дифракциялық бейнелерін пайдалана отырып,
рентген сәулелерінің толқынының ұзындығын табуға болады. Толқынының
ұзындығы белгілі рентген сәулелерінің дифракциялық бейнелерін талдап
зерттеу арқылы кристалдық решетканың түрін (типін) және оның кристалдық
структурасын анықтауға болады. Кристалдың құрылысын осылай зерттеу рентген
структуралық анализ деп аталады.

4. Рентген сәулелерінің практикада қолданылуы.
Рентген сәулелерін медицинада науқас кісінің ауруын анықтау үшін және
кейбір ауруды емдеу үшін пайдаланады.
Рентген сәулелерін ауруды анықтау үшін пайдалану рентген сәулелерінің
жұтылу қасиеттерінің ерекшелігіне негізделген. Адамның мүшелері түзілген
ұлпалардың рентген сәулелерін жұту қабілеті әр түрлі болады, мысалы рентген
сәулелерін жұмсақ ұлпалар нашар жұтады, сүйектің минерал заттары өте күшті
жұтады. Сондықтан адамның мүшесінен рентген сәулелері өткенде оның
интенсивтілігі түрліше кемиді де көлеңке кескіні түседі. Ол кескіннен
адамның ішкі органдарының формасы мен орналасуы айқын көрінеді. Осындай
кескіндер бойынша олардың сау не аура екендігін білуге болады.
Рентген сәулелерінің көмегімен мысалы, адамның ішкі органының ауру-
сауын айырғанда адамды рентген түтігімен флуоресценцияланғыш экранның
аралығына тұрғызады да одан рентген сәулелерін өткізеді, содан экранның
бетіне оның зерттелетін органдарының көлеңкелік кескіндері келтірілген.
Флуоресценцияланғыш экранның орнынан рентген органның суретін
(рентгенограммасын) түсіріп алуға да болады. Мұндай рентгенорамма
флуоресценцияланғыш экран бетінде байқалатын кескінге ұқсас, бірақ
контрастлығы керісінше болады, өйткені рентгенограмма негативті кескін
болып табылады.
Рентген сәулелерін ауруды емдеу мақсатымен пайдалануға олардың
билдогиялық әсеріне негізделген.рентген сәулелерінің биологиялық әсері тек
олардың қатаңдығына және жұтылу мөлшеріне ғана емес, әр түрлі ұлпалардың
рентген сәулесін сезгіштігіне де байланысты. Мысалы: мол рентген
сәулелерінің әсерінен зардапты ісікиердің ұлпалары, сау ұлпалардан горі
оңай бүлінеді, рак ауруын рентген сәулелерімен емдеу осыған негізделген.
Рентген сәулелері осы кездегі техникада кеңінен қолданылады. ... жалғасы

Сіз бұл жұмысты біздің қосымшамыз арқылы толығымен тегін көре аласыз.