Рентген сәулелері

Мазмұны

Кіріспе
I.Рентген сәулелерінің дифракциясы
I.1. Рентген сәулелері.
I.2. Дифракция құбылысы.
I.3. Рентген сәулелерінің дифракциясын эксперименталды түрде зерттеу.
I.4. Рентген сәулелерінің практикада қолданылуы.
II. Дифракциялық құрылымдық зерттеу әдістері
2.1. Рентгендік дифракциялық зерттеулердің дифракциялық эксперименттік әдістері, классификациясы.
2.2. Қарапайым жағдайларда рентгендік дифракциялық зерттеулер құралдары.
2.3. Зерттеу материалына сипаттама
Қорытынды
Пайданылған әдебиеттер
Кіріспе

Рентген сәулелерін алғаш зерттеушілер Стокс, Д.А.Гольдгаммер және Рентген, рентген сәулесі жылдам электрондар анодқа соқтығысып тежегенде шығарылатын электромагниттік толқын деген ойларын айтқан. Бірақ рентген сәулесінің бірқатар қасиеттері оның толқындық табиғатымен үйлеспеді. Рентген сәулесінің көптеген қасиеттерін зерттеу өте қиынға түсті. Бір ортадан екінші ортаға өткендегі рентген сәулесінің шағылуы мен сынуын көп уақытқа дейін бақылау мүмкін болмады. Рентген сәулесінің әлсіз шашырауын ғана байқаған, оны рентген сәулесінің корпускулалы табиғаты бойынша оңай түсіндіруге болады.
Рентген сәулелерінің толқындық табиғатын түсіндірудегі негізгі қиыншылық рентген сәулелерінің интерференциясы мен дифракциясы байқау мақсатында Рентген және басқа зерттеушілер жасаған тәжірибелердің сәтсіздігі. Көп уақыт өтпей-ақ рентген сәулесінің толқын ұзындығы көрінетін және ультракүлгін сәуленікінен әлде қайда кіші екендігі анықталды.
Рентгеннің алғашқы жұмысы жарық көргеннен кейін, 1897 жылы Стокс рентген сәулесінің табиғаты туралы қазіргі көзқарас шеңберінде дұрыс деп есептеуге болатындай ұсынысын жасаған. Стокс рентген сәулесін электрондар анодқа соқтығысып жылдамдығы күрт өзгергенде пайда болатын қысқа электромагниттік импульс деп есептеді. Қозғалыстағы заряд жылдамдығының мұндай өзгерісін электр тогының әлсіреуі деп қарастыруға болады. Ол қозғалыстағы электронмен байланысқан магнит өрісінің әлсіреуімен қатар жүреді. Магнит өрісінің өзгерісі қоршаған ортада айнымалы электр өрісін тудырады, ал ол айнымалы ығысу тоғын тудырады, және т.с.с. сонымен Максвелл түсіндіруіне сәйкес кеңістікте жарық жылдамдығымен таралатын электромагниттік испульс пайда болады.
Рентген сәулесінің табиғаты 1912 жылы Лауэ идеясы бойынша рентген сәулесінің дифракциясы құбылысын тәжірибе жүзінде алынғаннан кейін барып толығымен анықталды. Лауэнің ашқан жаңалығы кезінде рентген сәулесінің толқынды табиғатының айқын дәлелдемесі болды.
ПАЙДАЛАНЫЛҒАН ӘДЕБИЕТТЕР

2. R.A. Sigslce., R.H. Vilson. –J. Appl Phys 1973, 25. p541.
3. Ибрагимов Ж.Д., Ярклов У. Пробеги ионов Kr и Xe в аморфном Al2O3 и SiO2 в области энергии 4-100 кэВ. В сб. Структура и свойства облученных материалов. Ташкент, «Фан», 1975, -24с.
4. R.J.Kelly. Low – Energy Depth Distributions in pt, Al and KCl as abtained by sputteing – J. Appl Phys, 39, 11, 1968, p 5298.
5. Мясников А.А., Позднеев Д.В. Расчет среднего числа радиционных дефектов в Si и SiO2 облученных быстрыми нейтронами. ФТП. Т.5, 1971, с.976.
6. W.Primak. Mechanism for the Radiation compaction of vitreous silica. - J. Appl Phys – 43, 6, 1972 p1745.
7. Вахидов Ш.А., Гасанов Э.М., Ибрагимов Ж.Д., Хабибуллаев П.К. Фазовые превращения в α - кварце под действием нейтронного облучения. – Доклады АН УзССР, 9, 1984, с. 24-25.
8. Гегузин Я.Е. Очерки о диффузии в кристаллах. М. «Наука», с.253.
9. Макаревич А.И., Березина Г.М., Курилович Н.Ф. Влияние нейтронного облучения на механические свойства кремния. В сб. Радиационная физика неметаллических кристаллов. Минск, «Наука и техника». 1970,-71с.
10. Глазков В.М., Вигдорович В.Н. В кн. Микротвердость металлов и полупроводников. М. «Металлургия», 1969,-248с.
11. Брудный В.Н., Толебаев Б. Изменение микротвердости образцов SiС (6Н) при нейтронном облучении. Атомная энергия, т.59, 1985, с.232-233.
12. Ерматов С.Е., Тогжигитов К. Исследование корреляции фазавого перехода, микротвердости и диффузии на образцах двуокиси кремния при реакторном облучении и термоотжиге. В сб. Физика атомного ядра и космических лучей. Алма-Ата, 1980, с.109-115.
13. Вахидов Ш.А., Гасанов Э.М., Ибрагимов Ж.Д., Каланов М., Мустафакулов А.А., Хабибуллаев П.К. Рентгеноструктурное исследование кристаллов кварца, выращенных на нейтронно-облученных затравках.-Докл. АН УзССР, №4, 1984, с.27.
14. Абдукадырова И.Х., Вахидов Ш.А., Мухтарова Н.Н. Радиационна-индицированная перестройка структуры кварца. УзССР фанлар Акад. ахбороты, физ.мат. фанлари сер. Изв. УзССР, серия физ.мат. наук, №3, 1984, с.76-79.
        
        Мазмұны
Кіріспе
I.Рентген сәулелерінің дифракциясы
1. Рентген сәулелері.
2. Дифракция құбылысы.
3. Рентген сәулелерінің дифракциясын эксперименталды түрде зерттеу.
4. Рентген сәулелерінің практикада ... ... ... ... ... ... дифракциялық зерттеулердің дифракциялық эксперименттік
әдістері, ... ... ... ... ... ... ... Зерттеу материалына сипаттама
Қорытынды
Пайданылған әдебиеттер
Кіріспе
Рентген сәулелерін алғаш зерттеушілер Стокс, Д.А.Гольдгаммер және
Рентген, рентген ... ... ... ... ... тежегенде
шығарылатын электромагниттік толқын деген ойларын айтқан. ... ... ... ... оның толқындық табиғатымен үйлеспеді.
Рентген сәулесінің көптеген қасиеттерін зерттеу өте ... ... ... ... ортаға өткендегі рентген сәулесінің шағылуы мен сынуын көп
уақытқа дейін ... ... ... ... ... ... шашырауын
ғана байқаған, оны рентген сәулесінің корпускулалы табиғаты ... ... ... ... толқындық табиғатын түсіндірудегі негізгі
қиыншылық рентген сәулелерінің интерференциясы мен ... ... ... және ... ... ... тәжірибелердің
сәтсіздігі. Көп уақыт өтпей-ақ рентген сәулесінің толқын ұзындығы көрінетін
және ультракүлгін сәуленікінен әлде қайда кіші екендігі анықталды.
Рентгеннің алғашқы ... ... ... ... 1897 жылы Стокс
рентген сәулесінің табиғаты туралы қазіргі көзқарас шеңберінде дұрыс деп
есептеуге болатындай ... ... ... ... ... ... соқтығысып жылдамдығы күрт өзгергенде пайда болатын ... ... деп ... Қозғалыстағы заряд жылдамдығының
мұндай өзгерісін электр тогының әлсіреуі деп қарастыруға ... ... ... ... магнит өрісінің әлсіреуімен қатар
жүреді. Магнит өрісінің ... ... ... ... ... ... ал ол ... ығысу тоғын тудырады, және т.с.с. сонымен Максвелл
түсіндіруіне ... ... ... ... таралатын
электромагниттік испульс пайда болады.
Рентген сәулесінің табиғаты 1912 жылы Лауэ ... ... ... ... ... ... ... алынғаннан кейін барып
толығымен анықталды. Лауэнің ашқан жаңалығы кезінде рентген сәулесінің
толқынды ... ... ... ... ... ... ... дифракциясы.
1.1. Рентген сәулелері.
Оптикалық спектрдің ультракүлгін алқабының қысқа ... ... ... деп ... ... бір ... ... басталады. Бұл
спектрлік алқапқа жататын сәулелердің толқынынан қысқа болады. Осындай өте
қысқа толқынды ерекше сәулелер рентген сәулелері деп ... ... ... 1895 ... ... ... ... тапқан.
Рентген катодтық сәулелерді зерттеп тәжірибе жасап жатып, бір ... ... ... ... өтіп ... ... сол ... жанында
тұрған флуоресценцияланғыш экраннан жарық шығып тұрғандығын кездейсоқ
байқады.
Түтікті қара ... ... ... ... ... ... ... тағыда бірсыпыра тәжірибелер жасап: экран ... ... оған ... ... ... ... ... ол
сәулелер шыны түтіктің катод сәулелері түскен ... ... Осы ... ... еркін электрондардың ағыны екендігі
мәлім. Олай болса, рентген ... ... ... ... ... ... таралатын көрінбейтін сәулелер болады. Бұл ... ... ... ... сәулелері кәдімгі жарық сәулелері өте алмайтын ағаш, шыны,
мата, қара қағаз сияқты денелерден өте алады; ... ... ... ... нашар өтеді, дәлірек айтқанда рентген сәулелері ауыр ... ... емес ... горі жеңіл атомдардан түзілген ... ... ... өтеді.
2)Рентген сәулелері түскен фотопластинка кәдімгі жарық түскендегідей
қараяды.
3)Рентген сәулелерінің әсерінен ауағу және ... ... ... ... пайда болады, өйткені олар рентген сәулелерінің әсерінен
иондалады.
4)Рентген ... ... ... заттар жарық шығарады (флуоресценция
құбылысы байқалады). Әсіресе платиносинородты барийдан жасалған экран жақсы
флуоресценцияланады.
5)Рентген сәулелеріне электр өрісі мен магнит өрісі әсер ... ... ... және ... ... әсерінен рентген сәулелерінің
таралу бағыты өзгермейді.
Сонымен рентген сәулелерін бақылап зерттеу үшін оның осы ... ... ... яғни ... экранды,
фотопластинканы және иондалу камерасын ... ... ... ... ... рентген сәулелерінің фотоэлектрлік және жылулық қасиеттерін ... ...... ... алу үшін ... ... ... Сондай
рентген түтіктерінің бір түрі 1-суретте көрсетілген; ... ... ... ... ... ... ол ауыр металдан, (платина, вольфрам
т.б.) жасалады. Электр тогы ... ол ... ... да одан
электрондар бөлініп шығады, сол электрондар К мен А ... ... ... ... ... үдей қозғалады.
Олар анодтың бір орнына шоғырланып соғылу үшін вольфрам спиральді
әдетте метал цилиндрдің ішінде орнатады.
Бұл ... ... ауа өте ... ... ... ... қысымы болымсыз аз, шамамен (10-6 – 10-8 мм сынап бағанынын
қысымындай) ғана болады. ... бұл ... ... тогы ... ... ... оған газ ... қатыспайды. Мұндай түтіктер
электрондық Рентген түтіктері деп аталады.бұлардың бір ... ... ... ... өтетін токтың күшін қалауымызша өзгертуге болады, олай
болса катодтан ұшып шығатын термоэлектрондардың ... ... ... ... ... түтіктің катоды мен анодының ... ... ... әлгі термоэлектрондардың жылдамдығын демек
кинетикалық ... ... ... ... ... ... ... қалауымызша өзгертіп, рентген сәулелерін әртүрлі жағдайларда
қоздыруға болады. Қоздыру ... ... ... сәулелері бөгеліс
рентген сәулелері және сипаттауыш рентген сәулелері деп екіге бөлінеді.
Бөгеліс рентген ... ... ... ... ... ... ... береді.
Электрондардың қозу энергиясы кәдімгі технологиялық қондырғыларда
100 000 эв. ... ... ... ... ... эв, ал ... ... соңғы кезде рентген сәулелерін энергиясы 100 000 000 эв.
электрондарды тормоздау ... ... әдіс ... ... үздіксіз көп уақыт жұмыс істеген кезде оның анодын
қызып кетуден сақтау үшін оны ... ... ... ағын сумен салқындатын
отырады.
1.2. Дифракция құбылысы.
Жарықтың толқындық сипаты білінетін құбылыстардың біреуі ... ... ... деп ... түзу ... жолдың бұрылу құбылысы
айтылады. Жарықтың осындай қасиеті бар ... ... ... жасап
білуге болады. Еген бір саңылаудан өткен жарық шоғының жолында ... см ... оған ... етіп ... ... 0,2 мм жіңңшке сым
тұрған болса, сонда 2 метрдей жердегі ақ ... ... ... геометриялық
көлеңкесінің дәл ортасына жіңішке ақ жолақ пайда болады. Бұл тәжірибеден
жарық толқыны ... ... ... ... ... түскені байқалады.
Демек бөгетке кездесіп жарықтың жолы қисаяды.
Бұл ... орыс ... ... ... ... ... ... мм инеге одан 24,17 м қашықтықта тұрған өлшемдері 0,7х4мм саңылау
арқылы толқын ұзындығы 0,46 мкм ... ... ... ... ... ... 15,47 м ... фотопластинка қойып сол ине көлеңкесінің
фотосуретін түсіріп алған.
1/ - сурет.
Сонда ине ... дәл ... ... ... ... екі ... қатарласа орналасқан бірнеше жарық және қара ... ... ... (1/ - ... Бұдан жарық толқынының жолындағы инені
айнала өтіп көлеңке алқабына барғаны ... ... тек ... ғана ... ... да толқындық
процестерге тән құбылыс. Мысалы: ... ... да ... ... ... бұрылып таралады. Биік үйдің бір жағынан шыққан дыбыс ... ... да ... өйткені дыбыс толқыны үйдің ... ... да ... ... алқапқа барады, басқаша ... ... ... ... ... зерттеу.
Рентген сәулелерінің толқындық табиғатын Лауэ тәжірибесінен кейін
анықталады. Алғаш Лауэ өзінің ... ... ... кристалдан
өткенде дифракция құбылысы байқалуы керек, өйткені атомдарының бір-бірінен
қашықтығы 0,1 нм-дей кристал бұл ... ... ... ... ... Лауэ осы айтылған пікірін дәлелдеу үшін шәкірттерімен
бірге тәжірибе ... оның бұл ... ... ... R-рентген түтігі, D1 мен D2 – ... ... бар ... ... (диафрагмалар), P-фотопластинка. Тәжірибе кезінде түтіктен
таралған бөгеліс рентген сәулелерінің қорғасын диафрагмадан өткен ... ... ... одан өтіп ... ... ... ... бетінде бірнеше қара дақтар пайда болады.
3-сурет.
3 – суретте ZnS кристалының пластинкасынан рентген сәулелері өткенде пайда
болған ... ... ... көрсетіліп отыр. Бұлардың центріндегі
ең интенцивтігі ... дақ ZnS ... ... ... ... сәулелері түскен орны, ал оны айнала белгілі ... ... ... ... қабат-қабат болып шашырай тараған, ... ... ... ... орнында болады. Сөйтіп, рентген
сәулелері кристалдық решеткадан өткенде дифракцияланады, ол сәулелер ... ... ... бейнелер түзіледі. Бұл ... ... ... ... ... ... ... қатар
рентген сәулелері дифракциясын түсіндірудің өзге тәсілі де бар. ... ... пен ... және орыс ғалымы Ю.В.Вульдо
(1913ж) өз беттерінше жаңа әдіс ... Бұл ... ... үшін куб пішінді
кристалдық решетка алайық. (4-сурет).
4-сурет.
Координатаның x, y, z ... ... болу үшін ... ... ... ... керек. Сонда х у жазықтығында ... ... ... ... ... х у ... кез келген
жазықтықпен қиғанда түзу сызық түрінде ізін қалдырады. (Мысалы: 1 және ... 2 және 2/). Біз ... 1,1/ ,... және 2,2/ ,..., ... ... ... ... бөле ... жазықтықтар бірдей тығыз орналасқан атомдардан және олардың
арақашықтығы d – ға тең ... қыры ... ... ... ... ... арқылы бөлуге болатыны көрінеді. Мысалы: 3,3/ ,...; 4,4/ ,...;
олар 1,1/ ,... және 2,2/ ,... ... ... ... ... ... қашықтығында. Осыған λ толқын ұзындығымен монохромат параллель
сәулелер түссін дейік. ... ... жаңа ... ... деп ... ... түсу ... тең бұрышпен шағылдыратынын айтамыз.
Бір ... ... кез ... ... ... ... болады, яғни
кез келген сәуленің жол ... ... 0-ге ... біз ... ... ... 2 ... болсын дейік.
(5-сурет).
5-сурет
Мұнда атомдық жазықтықтардың әрқайсысындағы атомдардың саны бірдей болады
және қара ... ... ... Кристалдың бетіне толқынының
ұзындығы λ-ға тең монохромат рентген сәулелерінің параллель шоғы ... ... ... ... бұрышы, яғни сырғанау бұрышы φ болсын. Бұл
рентген сәулелері әр түрлі атомдық жазықтықтардағы атомдардан ... ... ... қарай шашырайды. Біз тек ... ... I және ... А және В атомдарынан шағылған 1 және 2 рентген сәулелерін
ғана қарастырайық. Бұл сәулелер шағылғаннан соң да ... ... ... олар атомдық жазықтықпен бұрынғыша φ бұрышын жасайды. 2/ ... 1/ ... ... ... ... жолдарының айырмасы СВ+ВД
қосындысына тең, суретке қарағанда.
Сонда:
СВ + ВD = 2dsinφ
Осылай дұрыс шағылған ... ... ... ... ... жолдарының айырмасы бүтін толқын ұзындығына тең болса , онда ... ... ... де, дақ өте ... ... ... ... рентген сәулелерінің интенсивтігі өте зор болу үшін
мына шарт орындалуға тиіс:
2d sin φ = ... ... ... ... ... пен ... шарты деп
аталады. Бұл теңдеуге енген n бірден басталатын бүтін ... тең ... n = 1 ... онда λ = 2d sin φ, ... бұл теңдеу толқынының
ұзындығы λ – тең рентген сәулелерінің кристалдан бірінші ... ... ... табылады. Егер n = 2 болса, онда 2λ = 2d sin φ2 бұл ... ... ... ... шағылу шарты болады, мұндағы φ2 мен ... ... ... түсу ... ... емес, олай болса монохромат
рентген сәулелерінің кристалға түсу бұрышын өзгерте отырып ... ... ... және т.т. ... ... ... болады.
Біз Вульф пен Бреггтер шартын қорытып шығарғанда кристалдың ... ... ... жазықтықтардан шағылған рентген сәулелерін
қарастырдық. Әрине дәл осылайша рентген ... ... ... системаларынан, мысалы, кристалдың элементар кубтарының диагональдары
арқылы жүргізілген жазықтықтардан шағылуын да ... ... ... ... қара дағы ... ... ... рентген сәулелерінің интерференциялануының нәтижесі екендігін
дәлелдеп ... ... ... кез келген жазықтықтар системасынан
шағылған ... ... ... ... үшін ... түскен рентген
сәулелерінің шоғында толқынының ұзындығы ... пен ... ... ... болуы тиіс.
Сөйтіп рентген сәулелерінің дифракциялық бейнелерін түсіндіру ... ... ... пен ... ... Лауэ ... эквивалент болып
табылады.
Бірақ Вульф пен Бреггтер методының өзінше ... зор, ... ... ... ... жайындағы ілімнің және сонымен қабат
кристалдың структурасын зерттеудің дербес бір әдісінің ... ... ... ... түрі ... және оның ... ... рентген сәулелерінің дифракциялық бейнелерін пайдалана отырып,
рентген сәулелерінің ... ... ... болады. Толқынының
ұзындығы белгілі ... ... ... ... ... арқылы кристалдық решетканың түрін (типін) және оның ... ... ... ... ... ... ... рентген
структуралық анализ деп аталады.
4. Рентген сәулелерінің практикада қолданылуы.
Рентген сәулелерін медицинада науқас кісінің ... ... үшін ... ... емдеу үшін пайдаланады.
Рентген сәулелерін ауруды анықтау үшін пайдалану рентген сәулелерінің
жұтылу қасиеттерінің ерекшелігіне негізделген. Адамның мүшелері ... ... ... жұту ... әр түрлі болады, мысалы рентген
сәулелерін жұмсақ ұлпалар нашар жұтады, сүйектің минерал заттары өте күшті
жұтады. ... ... ... рентген сәулелері өткенде оның
интенсивтілігі түрліше кемиді де көлеңке ... ... Ол ... ішкі ... ... мен орналасуы айқын көрінеді. ... ... ... сау не аура ... ... ... сәулелерінің көмегімен мысалы, адамның ішкі органының ауру-
сауын айырғанда ... ... ... флуоресценцияланғыш экранның
аралығына тұрғызады да одан рентген сәулелерін өткізеді, содан ... оның ... ... ... ... ... экранның орнынан рентген ... ... ... алуға да болады. Мұндай рентгенорамма
флуоресценцияланғыш экран бетінде ... ... ... ... керісінше болады, өйткені рентгенограмма негативті кескін
болып ... ... ... ... ... пайдалануға олардың
билдогиялық әсеріне негізделген.рентген сәулелерінің биологиялық әсері ... ... және ... ... ғана ... әр түрлі ұлпалардың
рентген сәулесін сезгіштігіне де ... ... мол ... ... ... ісікиердің ұлпалары, сау ұлпалардан горі
оңай бүлінеді, рак ауруын рентген сәулелерімен емдеу осыған негізделген.
Рентген ... осы ... ... ... ... ... өнеркәсіпте, металл өңдеуші және машина жасаушы заводтарда
рентген сәулелерін, технологиялық процестерді бақылап-басқарып ... ... мен ... ... ... ... ... бар-жоғын
білу үшін пайдаланады. Ол үшін рентген сәулелерін ... ... ... ... түсіреді. Сонда пленка қараяды. Оның ... ... ... ... ... ... байланысты, ал
рентген сәулелерінің интенсивтілігі, оның ... ... ... Егер ... ... дәрежесі барлық жерінде бірдей болмаса,
онда пленканың көбірек ... ... ... ... ... ... болғаны, яғни ол жерге түскен рентген сәулелері
детальда аз жұтылғаны. ... ... ... ішінде кішкентай газды қуыс
болса, оның рентгенограммасы осы айтылғандай болады, ... ... ... ... осы ... ... детальдың басқа ақауларын, ішіндегі жарығын, кірмелерін ... ... ... ... ... ... әдістері.
2.1. Рентгендік дифракциялық зерттеулердің дифракциялық
эксперименттік әдістері, классификациясы.
Құрылымдық зертеулердің ... ... даму ... ... ... және басқа зерттеушілердің алғашғы еңбектерінде
айтылған. Дегенмен қатты дене физикасының бұл бөлімі үздіксіз дамуда ... ... ... ... ... спектрді тіркеу тәсілі (фотографиялық немесе иондалу), немесе
зерттелінуші объектінің ... ... ... ... ... ... мәселесіне бірден-бір физикалық әдіс болғанына
қарамастан, әртүрлі объектілерді экспериментальдық зерттеулердің ... бар және ... ... ... бөлімдерінің
пайда болуына әкеледі.
Рентген дифракциялық зертеулерді кәдімгі ... да ... ... ... жасалынуына арнайы қосымша жабдықтау
мен қондырғы қажет болатын, «ерекше» жағдайларда да ... ... ... деп ... ... жоғарғы температура, вакуум немесе
жоғарғы қысым, магнит немесе электр өрісі және т.с.с. түсінеді.
Дифракциялық спектрді тіркеу ... ... ... ... ... ... көп деп ... келген.
Практика фотографиялық әдістің де өзіндік ... бар ... ... ... ... мен сенімділігі, бірмезгілде
барлық дифракциялық ... ... оның көп ... ... жазып алуға
мүмкіндігінде. Осы екі дифракциялық картинаны тіркеу әдісінің ... да ... мен ... бар. ... ... ... ... де меңгеру және белгілі жағдай үшін тиімдісін қолдана білуі керек.
Қазіргі кезде ... ... ... ... бір ... мүмкіндік беретін бір және екі ... ... ... картинаны тіркейтін дифрактометрлер жасалынған. Дифракциялық
әдістермен кристал құрылымын эксперименталдық зерттеу ... ... ... J(H) ... ... алу ... ... үлгіден шашыраған рентген сәулесінің кеңістіктік
таралуы болып таралады және ... ... ... ... ... ... интенсивтілігін көрсету әдісімен сипатталады.
2.2.Қарапайым жағдайларда рентгендік дифракциялық
зерттеулер құралдары.
1) Рентген сәулесі көздері. Рентген сәулесі көздері ... ең ...... ... Рентген – құрылымдық анализде әртүрлі рентген-
оптикалық ... ... ... ... ... мен өлшемі
әртүрлі фокусты рентген түтіктері қажет.
Рентген түтіктері жоғарғы кернеулік генераторлық құрылғылар ... ... ... картина бір мезгілде және ұзақ уақыт
бойы тіркеледі, ал фотопленка сәуле интенсивтілігінің ... ... ... ... ... ... ... тіркеледі, сондықтан бұндай жағдайларда ... ... ... ... ... ... Көпшілік жағдайда генераторлық
құрылғыға берілетін кернеу, сонымен қатар ... ... ... ... ... ... детекторларретінде рентгендік
пленкалар мен есептегіштер (гейгер, сцентилляциялық) қолданылады.
Интенсивтілігі үлкен, жоғары ... ... ... ... ... айналмалы анодты рентген түтігі орнатылған АРТВ-
5,0 рентген аппараты қолданылады. АРТВ-5,0 аппараты ... ... ... ... горизонталь орналастыруға мүмкіндік беретін үстел,
суыту құрылғысы және жоғарғы кернеулік қоректендіру көзі ... ... ... рентген камераларында фотографиялық әдістермен
дифрактометрлер көмегімен ионизациялық ... ... ... ... ... Рентген камерасы.
Дебай-Шерер әдісімен поликристалдарды рентгенографиялық ... ең көп ... ... ... камерасы. Ол поликристалдың құрылымын
зерттеу үшін, үлгілерде фазалық анализ жүргізу, кристалдардың ... ... ... үшін ... Дифракциялық картинаны
тіркеу есептік диаметрі 57,3 мм цилиндрлік пленкада 40-840 ... ... ... ... поликристалдар түсіру үшін камер-
монхрометр сияқты күрделі ... ... ... ... ... ... камераларда жүргізіледі,
сонымен бірге олардың көпшілігін поликристалдардызерттеу үшін ... ... ... ... ... және ... арнайы
гониометрлік құрылғымен жасалынады. Ол монокристалды өзара перпендикуляр
екі бағытта қозғалуына және оның көлбеулігінің екі ... ... ... ... ... ... ... дифрактометрлер.
Ионизациялық әдісте дифракциялық картинаны тіркеу иондаушы сәуле
есептегіші көмегімен қажетті бұрыштық ... ... ... Бұл рентген сәулесі көзінің және барлық жүйенің түгелдей
орнықтылығына ... ... ... ... ... құралдарда
күрделі электрондық құрылғының ... ... ... ... және оның бағасын фотографиялық тіркеуші рентгендік
камералар бағасымен салыстырғанда бірнеше есе ... ... ... ... ... рентгендік дифрактометрдің құрамдас бөлігі
болып табылатын ЭЕМ ... ... ... ... ... ... ... үшін арналған, сонымен бірге ... ... ... ... ... үшін де қолданылады.
ДРОН-2,0 күрделі құрал. Оның құрамына жоғарғы кернеулі қоректендіру
көзі ВНП, дифрактометрлік ... ГУР ... ... ... ... ... қондырғы және автоматты басқару блогі
кіреді.
Қазіргі кездегі ... ... ... ... ... ... өлшеуге арналған, күрделі оптико-механикалық құрал болып
табылатын, рентгендік гониометрлік құрылғы ... ... ... дәлдігі гониметр дифракция бұрышын қаншалықты дәл
өлшейтіндігіне байланысты. ... ... ... ... ±0,005 ... ... -90÷+164 бұрыштық интервалда тіркеуді
қамтамасыз ететін ГУР-5 ганиометрі ... ... ... ... сәулесі көзіне қатысты өте дәл белгіленген орынға
орнатылады. Арнайы тұтқа ... үлгі мен ... ... ... ... ... бұрыштық бұрылуын бақылай ... ... ... ... ... ... керекті бұрыштық интервалда
өзгертуге болады. Дифракциялық спектрді жазу электронды ... ... ... цифр ... ... ... жазылады. Бір
жазу әдісінен екіншісіне өту арнайы ажыратып қосқыш көмегімен ... ... ... ... көзі ... БСВ-8М және БСВ-
10М рентген түтігі пайдаланылады. БСВ-8М мыс анодты түтігінің максимал
қуаты 2кВт ... ... ... ... ГУР-5 ... орналастыруға болатын, әртүрлі қосымша құралдар көмегімен
әжептеуір кеңейтуге болады. Бұл жеткілікті ірі ... ... ... Қосымша бөлім – гониометрлік аз бұрыштық құрылғы ГМУ –
пленкалар, пластинкалар мен талшықтарда аз ... ... ... ... ... Ол ГУР-5 ... ... саңылауына
фокусталған, интенсивті монохромат рентген сәулесі ... ... ... ... монохроматтар.
Аз бұрышты ГМУ құрылғысы ДРОН-2 дифрактометрінде дифракциялық спектрді
өлшеу 15/-тан 1000 дейінгі бұрыштық интервалда 2υ ... ... ... ... ... бар ... ... қатты
дене құрылымдық функциясының көптеген есептерін шешуге мүмкіндік береді.
2.3. Зерттеу материалдарына сипаттама.
Силикагель
Силикагель дегеніміз PH>5-6 болғанда ... ... ... ... ... ... ... Қатты гидрофильді
сорбент.
Силикагель сілтілік металдардың ерітінділерінен қашқалдандырғанда
түзілген гельді одан әрі ... және ... ... ... ... 0,5нм қашықтықта орналасқан SiOH топтарынан
тұратын бетінің ауданы үлкен (500м2/1г). Бұл топтар ... ... ... және берілген силикагель белсенділігі ... ... мен ... ... Белсенді адсорбентте, яғни оның бетінде
адсорбиленген судан ажыраған, көптеген центрлер ... ... ... ... ... дейін қыздырғанда болады.
Жоғарырақ 200-4000С температура интервалында қыздырғанда су ыдырағанда
болатын Si-O байланысы түзілуі нәтижесінде белсенділік жойылады. Бірақ бұл
кезең қайтымды. 4000С ... ... ... ... ... қайтымсыз кішірейеді.
Белсенді центрлер полярлы еріген ... ... ... ... ... ... ... 5÷7 – ден 10-2 мм-ге дейін дән немесе шар
тәрізді түйіршіктер түрінде ... ... ... ... орташа эффективтік диаметрі және меншікті бетінің ауданы
102-103м2/г.
Силикагельдің хромотографияда ... ... су ... ... ... ... ретінде (кептіргіштер) және полярлы емес
сұйықтарды адсорбциялық тазартуға қолданады. Сонымен қатар спирттілерді,
аминоқышқылдарын, дәрумендерді, ... және ... ... ... қуысты силикагельдер катализаторларды тасымалдаушылар ретінде де
қоданылады. ... ... – 222 ... және оның ... ... ... ... буланбайды, иісі жоқ, суда ерімейді. Адам ағзасына зиянды
емес.
2. Силикагель бетінің ауданы 450м2/г – нан кем емес ... ... ... ... кем ... ... немесе жартылай мөлдір
түйіршіктерінен тұрады.
3. Силикагель ... ... ... бензинді, күкірт қышқылының буын
және органикалық еріткіштердің барлық түрлерін сіңіреді. Суды ... ... ... ... ... ... ... Силикагельді қалташаларда, силикагель суды жұтқанда (20%-дан) түсі
қызғылт түске өзгеретін, ... ... ... ... ... ... жаңа ... индикатордың
көгілдір түйіршіктері болады.
Силикагель түрлері
Силикагелбдің екі түрі өндіріледі:
А – типі – ... ... ... ... ... ... қасиеті өте жақсы. Өнімдерді ... ... ... ... – типі – ... ... абцорбциялық қасиеті өте ... ... ... ... ... тұру үшін ... сипаттамалары |А – типі |В – типі ... ... % |2,5 – тен кем |2,5 – тен кем |
| ... |8 – ден ... |3 – тен ... ... ... 20% | | ... % | | | |
| ... |20 – дан ... |10 – нан ... |
| ... 50% | | |
| ... |30 – дан жоғары |50 – ден ... |
| ... 90% | | ... |4-8 |4-8 |
А және В – ... ... басқа абсорбенттермен салыстыру. (50% және
90% салыстырмалы ылғалдылықтағы абцорбция дәрежесі)
25
1
20
2
15
3
10
5
0 1 ... ... ... 1 ... ... ... ... (А – тип – ... ... В – тип – төменгі график)
2. Түйіршіктелген кальций тотығы
3. Әк (кальций тотығы)
ҚОРЫТЫНДЫ
Кремний қос тотығының ... ... ... ... ... нәтижесінде төмендегідей қорытынды жасауға болады:
• Рентген құрылымдық анализ әдісімен ... қос ... ... өлшемдерінің экспериментальдық мәндері
анықталды.
• Рентген сәулелерінің аз ... ... ... ... ... ... және ... ендірілген кремний қос
тотығында да структуралық өзгерістер болатындығы, ал ... ... ... ... ... ... ... ендірілген үлгілерде жылдамырақ жүретіндігі анықталды.
Бұл монокристаликтердің өлшемінің сәулелендіруге және ... ... ... ... ...... артуымен түсіндіріледі.
Сонымен, зерттеуден алынған мәлімет ... қос ... ... ... күйден кристалдық күйге өтетіндігін көрсетеді.
• Рентгенструктуралық анализ үлгілердің ... ... ... атомаралық қашықтықтарын анықтауға мүмкіндік берді. Осы зерттеу
негізінде кристалданған ... қос ...... a ... c = 7,11, d = ... ... торлы α –
кристобалит екендігі анықталды.
• Бастапқы және қоспа ендірілген ... қос ... ... ... ... ... нәтижесінде, 2000С
температурада микроқаттылықтың күрт артуы су молекуласының ... ... рет 6000С – де ... ... кристалдық фазаға өтуімен
байланысты деп табылды.
• Бастапқы және ... ... ... қос ... түсі температура
артқанда өзгеріп, бастапқы үлгілер қоспа ... ... ... ... ... ... Қорыта айтқанда кремний қос ... ... ... ... ... 6000С ... ... кремний қос
тотығы кристалдық фазаға өте бастайтындығы және де бастапқы SiO2 қоспа
(Fe, Cu) ... SiO2 – ге ... ерте ... ... ... R.A. ... R.H. Vilson. –J. Appl Phys 1973, 25. ... Ибрагимов Ж.Д., Ярклов У. Пробеги ионов Kr и Xe в аморфном Al2O3 и ... ... ... 4-100 кэВ. В сб. ... и свойства облученных
материалов. Ташкент, «Фан», 1975, -24с.
3. R.J.Kelly. Low – Energy Depth ... in pt, Al and KCl ... by ... – J. Appl Phys, 39, 11, 1968, p ... ... А.А., ... Д.В. ... среднего числа радиционных дефектов
в Si и SiO2 облученных быстрыми нейтронами. ФТП. Т.5, 1971, с.976.
5. W.Primak. Mechanism for the Radiation ... of vitreous silica. -
J. Appl Phys – 43, 6, 1972 ... ... Ш.А., ... Э.М., ... Ж.Д., ... П.К. Фазовые
превращения в α - кварце под действием нейтронного облучения. – ... ... 9, 1984, с. ... ... Я.Е. Очерки о диффузии в кристаллах. М. «Наука», с.253.
8. Макаревич А.И., Березина Г.М., ... Н.Ф. ... ... на ... ... кремния. В сб. Радиационная физика
неметаллических кристаллов. Минск, «Наука и техника». 1970,-71с.
9. Глазков В.М., ... В.Н. В кн. ... ... ... М. ... 1969,-248с.
10. Брудный В.Н., Толебаев Б. Изменение микротвердости образцов SiС (6Н)
при нейтронном облучении. Атомная энергия, т.59, 1985, ... ... С.Е., ... К. ... ... фазавого перехода,
микротвердости и диффузии на образцах двуокиси кремния при ... и ... В сб. ... ... ядра и ... лучей.
Алма-Ата, 1980, с.109-115.
12. Вахидов Ш.А., Гасанов Э.М., Ибрагимов Ж.Д., Каланов М., Мустафакулов
А.А., Хабибуллаев П.К. ... ... ... ... на ... ... АН УзССР,
№4, 1984, с.27.
13. Абдукадырова И.Х., Вахидов Ш.А., Мухтарова Н.Н. ... ... ... кварца. УзССР фанлар Акад.
ахбороты, физ.мат. фанлари сер. Изв. ... ... ... ... ... ...

Пән: Физика
Жұмыс түрі: Реферат
Көлемі: 16 бет
Бұл жұмыстың бағасы: 1 000 теңге









Ұқсас жұмыстар
Тақырыб Бет саны
Рентген сәулелері және олардың қолданылуы34 бет
Рентген сәулелері және оның қасиеттері4 бет
Вольфрам наноұнтағының рентген-құрылымдық талдауы19 бет
Иондаушы сәулелер10 бет
Күн-ең жақын жұлдыз10 бет
Күннің рентген сәулеленуін зерттеу этаптары7 бет
Мәліметтер14 бет
Рентгенология.Құрылымдық кристаллографияның негіздері.21 бет
Тізбектер реакциялары8 бет
Электр өткізгіш заттар7 бет


+ тегін презентациялар
Пәндер
Көмек / Помощь
Арайлым
Біз міндетті түрде жауап береміз!
Мы обязательно ответим!
Жіберу / Отправить


Зарабатывайте вместе с нами

Рахмет!
Хабарлама жіберілді. / Сообщение отправлено.

Сіз үшін аптасына 5 күн жұмыс істейміз.
Жұмыс уақыты 09:00 - 18:00

Мы работаем для Вас 5 дней в неделю.
Время работы 09:00 - 18:00

Email: info@stud.kz

Phone: 777 614 50 20
Жабу / Закрыть

Көмек / Помощь