Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика – химиялық әдістері
Микроэлектронды құрылымдарды және ИМС құру кезінде олардың негізінде, тазарту (очистка) және үстіңгітотығуы (окисление поверхности), фотлитография, қоспалардың диффузиясы, иондық имплантация, эпитакция, травление, атоамдардың булануы және конденсация, әр түрлі материалдың бөліктері, металлизация және т.б. физика – химиялық әдістер көбірек қолданым тапты.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний – қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 – 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты – параболалық – температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 – 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний – қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 – 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты – параболалық – температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 – 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.
Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика - химиялық әдістері.
Микроэлектронды құрылымдарды және ИМС құру кезінде олардың негізінде, тазарту (очистка) және үстіңгітотығуы (окисление поверхности), фотлитография, қоспалардың диффузиясы, иондық имплантация, эпитакция, травление, атоамдардың булануы және конденсация, әр түрлі материалдың бөліктері, металлизация және т.б. физика - химиялық әдістер көбірек қолданым тапты.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний - қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 - 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты - параболалық - температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 - 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.
2.6 сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы
Өнеркәсіптік шығаруда жартылай өткізгішті ИМС - ды кремнилі пластинаның құрамдасқан тотығуын жиі қолданады. Басында құрғақ оттекте SiO2 жұқа қабатын өсіреді, сосын дымқыл оттекте қалыңырақ қабатты ұзартады және құрғақ оттекте тотығуды қайтадан өңдеу процессін аяқтайды. Бұндай құрамдасқан тотығу бір жағынан Si - SiO2бөлімінің және SiO2қабатының шегінен керекті қасиеттерді алуды және басқасымен минималды температура кезінде және SiO2қабатына қажетті қалыңдықты азырақ уақытта ... жалғасы
Микроэлектронды құрылымдарды және ИМС құру кезінде олардың негізінде, тазарту (очистка) және үстіңгітотығуы (окисление поверхности), фотлитография, қоспалардың диффузиясы, иондық имплантация, эпитакция, травление, атоамдардың булануы және конденсация, әр түрлі материалдың бөліктері, металлизация және т.б. физика - химиялық әдістер көбірек қолданым тапты.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний - қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 - 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты - параболалық - температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 - 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.
2.6 сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы
Өнеркәсіптік шығаруда жартылай өткізгішті ИМС - ды кремнилі пластинаның құрамдасқан тотығуын жиі қолданады. Басында құрғақ оттекте SiO2 жұқа қабатын өсіреді, сосын дымқыл оттекте қалыңырақ қабатты ұзартады және құрғақ оттекте тотығуды қайтадан өңдеу процессін аяқтайды. Бұндай құрамдасқан тотығу бір жағынан Si - SiO2бөлімінің және SiO2қабатының шегінен керекті қасиеттерді алуды және басқасымен минималды температура кезінде және SiO2қабатына қажетті қалыңдықты азырақ уақытта ... жалғасы
Ұқсас жұмыстар
Пәндер
- Іс жүргізу
- Автоматтандыру, Техника
- Алғашқы әскери дайындық
- Астрономия
- Ауыл шаруашылығы
- Банк ісі
- Бизнесті бағалау
- Биология
- Бухгалтерлік іс
- Валеология
- Ветеринария
- География
- Геология, Геофизика, Геодезия
- Дін
- Ет, сүт, шарап өнімдері
- Жалпы тарих
- Жер кадастрі, Жылжымайтын мүлік
- Журналистика
- Информатика
- Кеден ісі
- Маркетинг
- Математика, Геометрия
- Медицина
- Мемлекеттік басқару
- Менеджмент
- Мұнай, Газ
- Мұрағат ісі
- Мәдениеттану
- ОБЖ (Основы безопасности жизнедеятельности)
- Педагогика
- Полиграфия
- Психология
- Салық
- Саясаттану
- Сақтандыру
- Сертификаттау, стандарттау
- Социология, Демография
- Спорт
- Статистика
- Тілтану, Филология
- Тарихи тұлғалар
- Тау-кен ісі
- Транспорт
- Туризм
- Физика
- Философия
- Халықаралық қатынастар
- Химия
- Экология, Қоршаған ортаны қорғау
- Экономика
- Экономикалық география
- Электротехника
- Қазақстан тарихы
- Қаржы
- Құрылыс
- Құқық, Криминалистика
- Әдебиет
- Өнер, музыка
- Өнеркәсіп, Өндіріс
Қазақ тілінде жазылған рефераттар, курстық жұмыстар, дипломдық жұмыстар бойынша біздің қор #1 болып табылады.
Ақпарат
Қосымша
Email: info@stud.kz