Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика – химиялық әдістері



Микроэлектронды құрылымдарды және ИМС құру кезінде олардың негізінде, тазарту (очистка) және үстіңгітотығуы (окисление поверхности), фотлитография, қоспалардың диффузиясы, иондық имплантация, эпитакция, травление, атоамдардың булануы және конденсация, әр түрлі материалдың бөліктері, металлизация және т.б. физика – химиялық әдістер көбірек қолданым тапты.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний – қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 – 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты – параболалық – температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 – 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.

Пән: Физика
Жұмыс түрі:  Материал
Тегін:  Антиплагиат
Көлемі: 3 бет
Таңдаулыға:   
Микроэлектронды құрыллымдарды құрудың базалық физика - химиялық әдістері.
Микроэлектронды құрылымдарды және ИМС құру кезінде олардың негізінде, тазарту (очистка) және үстіңгітотығуы (окисление поверхности), фотлитография, қоспалардың диффузиясы, иондық имплантация, эпитакция, травление, атоамдардың булануы және конденсация, әр түрлі материалдың бөліктері, металлизация және т.б. физика - химиялық әдістер көбірек қолданым тапты.
Термиялық тотығу. Тотығу жартылай өткізгішті немесе пленкалы құрылымдардың бетінде алдыңғы материалдардың тотығуынан қорғаушы қабаттарды құру үшін арналған. Жартылай өткізгішті технологияда кремнидің пластинасының бетінде тотықтыруды қос қышқылды кремний қабатынан құру мақсатымен кеңінен қолданады. Термиялық тотығуды, анодты тотығуды және қышқылды пиролитикалық жағуды ажыратады.
Көбірек таралған термиялық тотығуда кремний қышқылының қабатын үш негізгі процесс түрінде көрсеуге болады:
1) алдыңғы пластинаның бетінде қышқылдың молекулаларының адсорбциясы;
2) тотығудан пайда болған қабат арқылықышқыл атомдарының өтуі;
3) тотығудың жаңа қабатының пайда болымен кремний - қышқылы бөлімінің шегарасында кремнидің атомдарымен қышқылдың әрекеттесуінің реакциясы.
Кремнилі ИМС шығару кезінде планарлы технология бойынша кремнидің термиялық (жоғарытемпературалық) тотығуы әр түрлі қышқылды орталарда: құрғақ және дымқыл оттекте және судың буында қолданады.
Құрғақ оттек ағынында тотығу 1000 - 1300oC температура кезінде және ауаның қысымы кезіндеөндіреді.Пленканың қалыңдығы сызықты - параболалық - температурадан тәуелді. Дымқылды оттекте кремнидің тотығуы 1200oC температура кезінде жүзеге асады. Берілген процесс үшін оттектің тотығуы, тотығу үшін пешке келіп түсетін, алдын ала су банясы арқылы жіберетін және судың буымен толтырады. Өсудің жылдамдығы және алынатын тотығудың қалыңдығы процесстің ұзақтығына, оттектің қысымына және су буының концентрациясына тәуелді.
Пластинаның астында судың буында кремнидің тотығуы кезінде, 1000 - 1200oC температураға дейін қыздырылған, ауаның қысымында сулы буды жібереді. Судың буындағы тотығудың жылдамдығы құрғақ оттектегі тотығудың жылдамдығын айтарлықтай жоғарылатады.

2.6 сурет. Кремнидің термиялық тотығуын орнату құрылғысы

Өнеркәсіптік шығаруда жартылай өткізгішті ИМС - ды кремнилі пластинаның құрамдасқан тотығуын жиі қолданады. Басында құрғақ оттекте SiO2 жұқа қабатын өсіреді, сосын дымқыл оттекте қалыңырақ қабатты ұзартады және құрғақ оттекте тотығуды қайтадан өңдеу процессін аяқтайды. Бұндай құрамдасқан тотығу бір жағынан Si - SiO2бөлімінің және SiO2қабатының шегінен керекті қасиеттерді алуды және басқасымен минималды температура кезінде және SiO2қабатына қажетті қалыңдықты азырақ уақытта ... жалғасы

Сіз бұл жұмысты біздің қосымшамыз арқылы толығымен тегін көре аласыз.
Ұқсас жұмыстар
Компьютерлік схемотехниканың арифметикалық негіздері. ЭЕМ құрудың классикалық негіздері жайлы
Толық анықталмаған функцияларды минимизациялау
Құрамында самарий бар полимерлі пленкаларды спектрофотометрлік жолмен зерттеу.
Комбинациялық микросхемалар
Жады элементтері, триггерлік сызбалар Үзіліссіз қоректендіру құрылғылары
Логикалық функцияларды ЭЕМ-де іске асыру, логикалық элементтер ЭЕМ-де сандарды көрсету әдістері
Сандық электроника саласының даму тарихын басшылыққа ала отырып,шала өткізгіштік приборлардың физикасын оқып-үйрену
Микроэлектрониканың даму кезеңдері
Есептеуіш техника
Микропроцессорлық жүйелер құрылымы. Микропроцессор архитектурасы
Пәндер