Эмиссиялық спектрлік талдаудың сандық негіздері

Пән: Электротехника
Жұмыс түрі: Реферат
Тегін: Антиплагиат
Көлемі: 6 бет
Таңдаулыға:

Эмиссиялық спектроскопия

МАЗМҰНЫ
КІРІСПЕ
НЕГІЗГІ БӨЛІМ
1. Эмиссиялық спектрлік талдаудың сандық негіздері
2. Эмиссиялық спектрлік талдаудың сапалық негіздері
ҚОРЫТЫНДЫ
ПАЙДАЛАНҒАН ӘДЕБИЕТТЕР

КІРІСПЕ
Талдаудың спектрлік және басқа да оптикалық әдістері, электромагниттік сәуле шығарудың затпен әрекеттесу және онымен байланысты жүретін басқа да құбылыстар мен әсерлер нәтижесінде туындайтын, аналитикалық сигналдар мен деректерді өлшеуге негізделген.
Жарықтың екі жақты табиғаты бар: толқындық және корпускулалық. Оны сипаттау үшін толқындық және кванттық теория тұрғысынан түсіндіру керек. Кванттық энергияквант теориясымен сипатталса, ал толқындық сипаттамаларға тербелу жиілігі, толқын ұзындығы, толқындық саны және сол сияқтылар жатады.Электромагниттік сәуле шығару энергиясы келесі қатынас бойынша анықталады: E = hν
мұндағы h - Планк тұрақтысы, ол 6,62 * 10−34 Джс-қа тең; ν - тербеліс жиілігі, ол 1 с тербелу санын көрсетіп, герцпен (Гц) өлшенеді.
Толқын ұзындығы - толқынның бірдей фазамен тербелетін ең жақын нүктелерінің арасы. Ол метрмен (м) және оның үлестері сантиметрмен (см), нанометрмен (1 нм = 10−9 м) өлшенеді.

Эмиссиялық спектрлік талдаудың сандық негіздері.
Оптикалық атомдық спектроскопияны қалыптасқан жіктеуге сәйкес үш топқа бөлуге болады:атомдық-эмиссиялы спектроскопия, атомдық-абсорбциялық спектроскопия және атомдық-флуоресцентті спектроскопия. Эмиссиялы-спектрлік талдау деп тиістіжарық көзі арқылы қозып, оптикалық атомды спектрлік жарық шығару бойынша зат құрамының элементін анықтауды айтамыз. Атомдық- эмиссиялы спектроскопияны сынаманы атомдандыру тәсілі және спектрдің қоздыруына қарай жалынды және жалынсыз деп бөледі. Атомдық-абсорбциялы және флуоресцентті спекстроскопияны да қолданылатын жабдығына қарай жалынды эмиссиялық спектроскопияға жатқызады. Әрбір әдістің қолдану саласына, сынаманың түрі мен сапасына, үлгінің түріне, табу шегінің қойылу талабына байланысты өзіне тән артықшылығы мен кемшілігі болады. Бұл әдістеменің үшеуін де кез келген сынаманың типі үшін элементтің болмашы іздерін анықтауға пайдаланады. Атомдық-эмиссиялық спектрлік талдауды жүзеге асыру үшін Мына шартты қамтамасыз ету қажет: біріншіден, сынама атомдануы қажет және түзілген атомдар жарық шығаруы үшін қозуы керек, бұл екі құбылыс та бір мезгілде жарық көзінде жүзеге асады. Екіншіден, сәуле шығаратын эмиссиялы сипаттамалық спектрлік сызықтар толқын ұзындығы бойынша бөлінуі керек, олардың салыстырмалы интенсивтігі сәйкес спектрометр немесе спектрограф көмегімен өлшенуі тиіс. Содан кейін сызықтардын интенсивтік мәндерін стандартты әрі белгілі кұрамдағы элементтің сызық интенсивтігінің мәндерімен салыстыру қажет. Осылайша талданатын сынама құрамындағы элементтің концентрациясын анықтайды. Мұнан кейін, алынған спектрге аналитикалық түрғыдан объективті және субъективті әдіспен бағалау жүргізіледі. Объективті әдістерді тура емес және тура деп бөледі. Біріншісіне - спектрографиялық, екіншісіне - спектрометрлік әдістемелерді жатқызуға болады. Спектрографиялық әдістемедегі фотоэмульсия сызықтар интенсивтігінің аралық сипаттамасын алуға мүмкіндік береді. Спектрометрлік әдістеме болса фотоэлектрлік жарық қабылдағыш көмегімен спектрлік сызықтардың интенсивтігін тура өлшеуге негізделген. Ал субъективті әдістегі сезімтал элемент - адамның көзі. Эмиссиялық спектрлік талдаудың негізгі артықшылығы - көптеген элементтерді табуда айтарлықтай күрделі жабдықтың болмауы, жақсы таңдаушылық пен талдаудың тез орындалуы және көп элементті бір мезгілде анықтау. Ал әдістемедегі негізгі шектеулер атомдану мен қоздыру процестерінің бөлінбеуімен, пайдаланған қоздыру көзінің типімен байланысты. Төменгі температуралы көздерді пайдаланғанда жоғары қыздыру энергиясы бар көптеген элементтер жеткілікті дәрежеде коздырылмайды, осы уақытта жоғары температуралы көздерді пайдаланғанда біршама фон және спектрдің күрделігі жоғары шешіммен спектрометрлік жүйені қолдануды қажет етеді.
Эмиссиялық спектрлік талдаудың сапалық негіздері.
Сапалық спектрлік талдаудың негізгі мәселесі - сынама құрамына енген элементтерді анықтау. Ізделініп отырған элементтің барын-жоғын суретке түсірілген спектрде осы элементтің аналитикалық сызықтары деп аталатындарды табу арқылы анықтайды. Шынын айтсақ элементтің бар екені туралы қорытынды толқын ұзындығы дәл анықталған жағдайда бір ғана спектрлік сызықша негізінде жасалады. Алайда іс жүзінде толқын ұзындығын анықтау спектрлік сызықтың пішіні мен онын орналасу жағдайын дәл өлшейтін спектрографтың шешушілік күшімен шектелген. Бұл мәселе көп сызықты спектр жағдайында күрделене түседі. Бірнеше сызықтардың кейбіреуі өзара бірігіп, толқын ұзындыгының өзгеруі салдарынан бір элементті басқалармен шатастыру қаупі туатын жағдайлар болады. Сондықтан да спектрде бірнеше аналитикалық сызықтың көрінуі шарт. Аналитикалық сызықтың аса көп санын іздестіруге уақыт көп кетеді, әрі ол артық еңбектенуді қажет етеді. Күрделі жағдайларда жеке элементті сенімді айқындау үшін 3-4 сызықтан артық іздеудін керегі жоқ. Аналитикалық сызықтарды таңдау кезінде олардың аса жоғарғы сезімталдылықта болуы шарт. ... жалғасы

Сіз бұл жұмысты біздің қосымшамыз арқылы толығымен тегін көре аласыз.